【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体,特别涉及一种芯片匀胶装置及方法。
技术介绍
1、红外焦平面探测技术具有光谱响应波段宽、可获得更多地面目标信息、能昼夜工作等显著优点,广泛应用于预警探测、情报侦察、毁伤效果评估以及农牧业、森林资源的调查、开发和管理、气象预报、地热分布、地震、火山活动,太空天文探测等领域。碲镉汞红外探测器是红外探测技术的代表产品之一。
2、碲镉汞芯片的材料单晶率低,导致碲镉汞的材料划切出来是尺寸不一致的方形,且尺寸小,无法采用自动化设备进行量产。同样地,光刻工序比如,匀胶等工序都是手动操作或者半自动操作。尤其是当芯片为方形时,芯片尺寸不一致,无法采用去边设备给匀胶完的芯片去边角,导致四个角的堆胶更为严重。另外,由于光刻采用的接触式曝光,在机器旋转的过程中,由于离心力的作用,碲镉汞芯片表面涂布的光刻胶在四角边缘处堆积比较厚,而在碲镉汞芯片表面中间位置的光刻胶厚度比较薄,目前多采用擦边胶的方式来去除堆胶,但操作耗时耗力。另一方面,胶厚不一致会导致光刻图形产生差异,严重时导致边缘像元,显影后相连,从而出来的图形很差。
【技术保护点】
1.一种芯片匀胶装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述夹持机构包括多个夹持组件,多个所述夹持组件围合成放置区域,用于放置所述芯片。
3.根据权利要求2所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述夹持组件包括:
4.根据权利要求3所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述第二夹持组件包括第三夹持部和第四夹持部,所述第三夹持部和第四夹持部均固定设置于所述承载台;
5.根据权利要求4所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述限位部为限位杆,所述限位杆设置有一个,所述限位杆贯穿所述第四夹持部,并与所述第二夹
...【技术特征摘要】
1.一种芯片匀胶装置,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述夹持机构包括多个夹持组件,多个所述夹持组件围合成放置区域,用于放置所述芯片。
3.根据权利要求2所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述夹持组件包括:
4.根据权利要求3所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述第二夹持组件包括第三夹持部和第四夹持部,所述第三夹持部和第四夹持部均固定设置于所述承载台;
5.根据权利要求4所述的芯片匀胶装置,其特征在于,所述限位部为限位杆,所述限位杆设置有一个,所述限位杆贯穿所述第四夹持部,并与所述第二夹持部连接,以将所述第四夹持部和第二夹持部限位固...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐海峰,刘竟然,龚汉红,谭必松,毛剑宏,
申请(专利权)人:浙江珏芯微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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