【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光平均波长测试，尤其涉及一种高精度光源平均波长长期稳定性的测试装置。
技术介绍
1、高精度光源平均波长长期稳定性是光纤传感和闭环光纤陀螺非常重要的参数之一，尤其是影响闭环光纤陀螺标度因数长期稳定性的主要因素。
2、传统的测试方式是将光源直接连接光谱仪，该方式只能实现单通道的串行测量，长期监测效率低。进一步的，通过关开关切换实现单个光谱仪对多个光源光谱的采集，进行平均波长的计算，该方式引入了光开关和光谱仪长期蠕变的影响，导致测试精度较低，无法反映高精度的光源平均波长长期变化情况。
技术实现思路
1、鉴于上述的分析，本专利技术实施例旨在提供一种高精度光源平均波长长期稳定性的测试装置，用以解决现有光源平均波长长期稳定性的测试效率和测试精度低的问题。
2、本专利技术实施例提供了一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，包括绝对波长参考模块、多通道矩阵光开关、光谱仪和信息处理设备；
3、所述信息处理设备，用于配置每一待测光源的通道切换指令、数据获取指...
【技术保护点】
1.一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，包括绝对波长参考模块、多通道矩阵光开关、光谱仪和信息处理设备；
2.根据权利要求1所述的一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，所述待测光源为一个或多个，按照设定的顺序进行测试；所述绝对波长参考模块为一个或多个；其中，所有待测光源和绝对波长参考模块的总数小于等于多通道矩阵光开关的输入端口数。
3.根据权利要求1所述的一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，所述多通道矩阵光开关的各输入端分别与每一待测光源和绝对波长参考模块的输出端连接，所述多通道矩阵光开关的公共...
【技术特征摘要】
1.一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，包括绝对波长参考模块、多通道矩阵光开关、光谱仪和信息处理设备；
2.根据权利要求1所述的一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，所述待测光源为一个或多个，按照设定的顺序进行测试；所述绝对波长参考模块为一个或多个；其中，所有待测光源和绝对波长参考模块的总数小于等于多通道矩阵光开关的输入端口数。
3.根据权利要求1所述的一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，所述多通道矩阵光开关的各输入端分别与每一待测光源和绝对波长参考模块的输出端连接，所述多通道矩阵光开关的公共输出端与所述光谱仪的探测端连接；
4.根据权利要求3所述的一种高精度光源平均波长长期稳定性测试装置，其特征在于，所述多通道矩阵光开关的各输入端分别通过lc光纤尾纤与待测光源或绝对波长参考模块的输出端尾纤熔接；多通道矩阵光开关的公共输出端通过lc-fc光纤跳线与光谱仪探测端连接。
5.根据权利要求1所述的一种高精度光源平均波长长期稳定性测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：李亚凡，魏飞，罗瑞，
申请(专利权)人：中航捷锐西安光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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