【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光谱和成像，具体涉及一种基于随机分布微/纳米岛薄膜的光场探测器件件。
技术介绍
1、光波具有光强、频率、相位、偏振态及空间分布等基本属性，涵盖了光源发射的光束以及物体或界面反射、透射和散射的光束，携带着与光源或物体相关的内在信息。现有技术中，偏振成像、高光谱成像等探测手段可用于测量这些光波属性，并通过这些测量数据推断出光源或物体的组成、结构和分布。然而，传统的检测技术通常仅能获取光波的二维属性，例如光谱仪可检测光强和频率，相机则可捕捉光强与空间分布信息。虽然部分技术如偏振成像与高光谱相机能够同时获取三维光波属性，但这些技术存在检测能力有限、价格昂贵、设备体积庞大等问题，限制了其广泛应用。
2、随着微纳光学领域的快速发展，提供了实现多维光场感知的全新技术途径。通过微结构对光场多维信息的感知能力，结合先进的算法，可实现对未知光波场多维属性的精准检测。基于微结构的多维光场感知器件因其具备高检测精度、高集成度、小型化和低成本等优势，成为当前技术研究的重点。然而，在大面积制备高效微结构时，尤其在短波段（如紫外和可见光波段...
【技术保护点】
1.一种基于随机分布微/纳米岛薄膜的光场探测器件，其特征在于，包括：感光阵列层（1）、微/纳米岛薄膜层（2）、、透明保护窗（3），所述微/纳米岛薄膜层是由形貌各异，尺寸大小不一的微/纳米岛薄膜层组成；微/纳米岛颗粒的平均尺寸通过调节沉积速率、温度和真空度进行控制，适用于波长范围为200 nm至2500nm。
2.根据权利1所述的一一种基于随机分布微/纳米岛薄膜的光场探测器件，其特征在于，微/纳米岛结构层，具有形貌随机，尺寸随机的特性，使得每个感光单元中的微/纳米岛结构整体形貌、数量、尺寸均不相同，从而使得每个感光单元对入射光场的光学响应能力不一；其中微/纳...
【技术特征摘要】
1.一种基于随机分布微/纳米岛薄膜的光场探测器件，其特征在于，包括：感光阵列层（1）、微/纳米岛薄膜层（2）、、透明保护窗（3），所述微/纳米岛薄膜层是由形貌各异，尺寸大小不一的微/纳米岛薄膜层组成；微/纳米岛颗粒的平均尺寸通过调节沉积速率、温度和真空度进行控制，适用于波长范围为200 nm至2500nm。
2.根据权利1所述的一一种基于随机分布微/纳米岛薄膜的光场探测器件，其特征在于，微/纳米岛结构层，具有形貌随机，尺寸随机的特性，使得每个感光单元中的微/纳米岛结构整体形貌、数量、尺寸均不相同，从而使得每个感光单元对入射光场的光学响应能力不一；其中微/纳米岛的尺寸大小可以通过控制制备条件进行调控，其尺寸大小呈正态分布，平均微/纳米岛尺寸范围0.5um2~200um2。
3.根据权利1所述的一种基于随机分布微/纳米岛薄膜的光场探测器件，其特征在于，此微/纳米岛薄膜厚度范围10nm~1um；其中制备该微/纳米岛薄膜材料由...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。