【技术实现步骤摘要】
本公开涉及可测性设计，尤其涉及一种生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、随着芯片规模的不断增大和制造工艺的持续进步，芯片可测性设计（design fortest，dft）对于芯片的制造和质量保证至关重要，该技术通过在芯片设计阶段引入特定的逻辑和结构，以便于在芯片制造后能有效地测试芯片，检查芯片的制造缺陷。
2、dft架构的设计对整个dft流程至关重要，dft的实现是基于dft架构的定义，dft架构规划出芯片各个模块的扫描测试分组、模块中是否规划片上存储器内建自测试、是否规划边界扫描测试等，是整个芯片dft设计的基石。
3、但dft架构设计对工程师的要求非常高，通常需要经验丰富的工程师根据项目的实际情况来制定合理的dft架构。
技术实现思路
1、本公开提供了一种生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质；能够自动生成可测试性设计架构。
2、本公开的技术方案是这样实现的：
3、第一方面，本公开提供了一种生成可测试...
【技术保护点】
1.一种生成可测试性设计架构的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构
【技术特征摘要】
1.一种生成可测试性设计架构的方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计dft架构规划数据，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计dft架构规划数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计dft架构规划数据，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述将所述项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计dft架构规划数据，包括：
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
【专利技术属性】
技术研发人员：王盼盼，黄新东，于天笑，
申请(专利权)人：西安简矽技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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