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本公开提供了一种生成可测试性设计架构的方法、装置、设备及存储介质，属于可测性设计技术领域，该生成可测试性设计架构的方法包括：获取待测芯片设计规划中的项目信息；将项目信息解析为标准数据结构的可测试性设计DFT架构规划数据；从DFT架构规划数据...
该专利属于西安简矽技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过西安简矽技术有限公司授权不得商用。

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