旋转式自清洁刻蚀装置制造方法及图纸

技术编号:43655114 阅读:24 留言:0更新日期:2024-12-13 12:48
本申请公开了一种旋转式自清洁刻蚀装置,包括工作室、介质罩、载台、载台、线圈、内罩、旋转驱动件、升降驱动件和顶升组件,内罩的底部设有遮边,遮边能够阻碍污染物进入工作室;内罩的表面附着有软质金属膜,能够可靠、高效地捕捉刻蚀过程中产生的污染物,从而保证刻蚀环境的清洁、保证晶圆表面处理的效果;通过旋转驱动件驱使载台旋转,能够提高覆膜均匀性和刻蚀均匀性;通过顶升组件使得内罩能够随载台旋转,既能够避免内罩与介质罩粘结、穿孔被堵塞,又能够甩落粘黏效果差的污染物,进一步保证腔内的环境清洁;内罩的外壁设有清洁件,通过清洁件旋转清扫介质罩,还能够实现腔壁自清洁,降低停机开箱的需求。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及晶圆刻蚀,尤其是一种旋转式自清洁刻蚀装置


技术介绍

1、等离子体刻蚀是晶圆表面处理的一种方式。射频电感耦合气体放电是产生等离子体的重要途径之一。在电感耦合系统中,电源直接施加于真空室外的线圈,由其产生的电磁场能量聚集在真空室内、激发气体放电、从而形成等离子体,使得带正电的离子轰击晶圆表面,即可去除晶圆表面的天然氧化物、或者碳氟化合物残留物等,最终在晶圆表面刻出所需形状。

2、晶圆刻蚀过程中,会产生氧化物、氮化物等污染物,它们会在刻蚀作用下附着到工作室的腔壁上;随着刻蚀不断进行,积累在腔壁上的污染物会脱落。若污染物落到晶圆表面,会影响晶圆的表面工艺。


技术实现思路

1、本申请的目的是在于克服现有技术中存在的不足,提供一种旋转式自清洁刻蚀装置。

2、为实现以上技术目的,本申请提供了一种旋转式自清洁刻蚀装置,包括:工作室和介质罩,介质罩设于工作室上,并连通工作室,介质罩和工作室之间形成晶圆刻蚀腔;载台,设于晶圆刻蚀腔内,用于承接晶圆;线圈,绕设于介质罩外;内罩,设于介质罩内,并悬本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述介质罩(120)包括罩体(121)和盖板(122),所述罩体(121)设置呈圆筒状,所述盖板(122)密封设置在所述罩体(121)远离所述工作室(110)的一端;

3.根据权利要求1所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述工作室(110)的顶部开设有连通孔,所述介质罩(120)罩设于所述连通孔外,并与所述工作室(110)的顶壁密封连接;

4.根据权利要求1所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述载台(130)上设有活动孔;

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【技术特征摘要】

1.一种旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述介质罩(120)包括罩体(121)和盖板(122),所述罩体(121)设置呈圆筒状,所述盖板(122)密封设置在所述罩体(121)远离所述工作室(110)的一端;

3.根据权利要求1所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述工作室(110)的顶部开设有连通孔,所述介质罩(120)罩设于所述连通孔外,并与所述工作室(110)的顶壁密封连接;

4.根据权利要求1所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述载台(130)上设有活动孔;

5.根据权利要求4所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,所述遮边(201)上设有限位孔,所述顶持件(410)能够插入所述限位孔中。

6.根据权利要求4所述的旋转式自清洁刻蚀装置,其特征在于,非顶升状态下,所述内罩(200)处于所述工作室(110)顶部,所述工作室(11...

【专利技术属性】
技术研发人员:张陈斌张超宋永辉王世宽
申请(专利权)人:无锡尚积半导体科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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