用于深度脑刺激的刺激系统及刺激效果评估方法、设备、介质技术方案

技术编号:43634725 阅读:20 留言:0更新日期:2024-12-13 12:35
本发明专利技术提供用于深度脑刺激的刺激系统及刺激效果评估方法、设备、介质,该方法包括步骤:根据多导联脑电电极的空间位置信息建立头皮的网格参考曲线;根据所述网格参考曲线选择设定多组刺激线圈的位置信息,并校准每组刺激线圈相对于头皮的矢量法线方向;计算空间域电磁场空间分布;构造时域载波下各刺激线圈的电磁场分布;提取低频干涉信号,并根据所述低频干涉信号计算性能参数,实现深度脑刺激时间干涉效果的评估。本发明专利技术不仅能够产生不同频率的电磁刺激信号,生成高质量的电磁信号,实现精确控制不同频率信号的产生,还能够同时考虑时域和空间域刺激效果实现深度脑刺激时间干涉效果的评估。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及非侵入式脑刺激,特别涉及用于深度脑刺激的刺激系统及刺激效果评估方法、设备、介质


技术介绍

1、在神经科学和脑刺激领域,非侵入性脑刺激技术已成为研究和治疗神经精神疾病的重要手段。经颅磁刺激(transcranial magnetic stimulation,tms)和经颅电刺激(transcranial electrical stimulation,tes)技术,因其能够调节大脑活动并影响生理和行为表现而迅速发展。然而,这些技术在实现深脑区域的刺激方面面临挑战,主要由于电场(e-field)的深度渗透和空间定位(称为聚焦度)之间的权衡。传统tms技术通过一个线圈产生磁场,进而在线圈下方的大脑区域产生电场,以激活特定的神经细胞。但是,由于神经膜的低通滤波特性,高频磁场不能直接激活神经元。为了解决这一问题,研究人员探索了时间干涉(ti)概念,通过两个独立线圈产生两个具有微小频率差异的高频电磁场,利用神经膜的低通滤波特性,使得神经元能够在两个电场的交点处对两个场的频率差有很好的跟随作用。通过调整线圈的布局和磁刺激的相关参数,能够精确地定位并激活大脑本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,在所述根据多导联脑电电极位置建立头皮的网格参考曲面步骤之前还包括:

3.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述校准每组刺激线圈相对于头皮的矢量法线方向步骤包括:

4.如权利要求3所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述计算空间域电磁场空间分布步骤包括:

5.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述构造时域载波下各刺激...

【技术特征摘要】

1.一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,在所述根据多导联脑电电极位置建立头皮的网格参考曲面步骤之前还包括:

3.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述校准每组刺激线圈相对于头皮的矢量法线方向步骤包括:

4.如权利要求3所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述计算空间域电磁场空间分布步骤包括:

5.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述构造时域载波下各刺激线圈的电磁场分布步骤包括:

6.如权利要求1所述的一种用于深度脑刺激的刺激效果评估方法,其特征在于,所述提取低频...

【专利技术属性】
技术研发人员:高宇昊徐雅洁郁朋
申请(专利权)人:中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
类型:发明
国别省市:

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