电流检测电路及电流检测方法技术

本发明专利技术公开了一种电流检测电路及电流检测方法，用于输出级电路，电流检测电路包括：第一采样单元、第二采样单元以及运算单元。第一采样单元采集第一输出管上的电流获得第一采样电流；第二采样单元采集第二输出管上的电流获得第二采样电流；运算单元基于第一采样电流和第二采样电流获得与从外部流入输出端的灌电流或从输出端流入外部的拉电流成比例的检测电流。根据本发明专利技术的电流检测电路及电流检测方法，通过第一采样单元将第一输出管上的电流进行镜像采样，通过第二采样单元将第二输出管上的电流进行镜像采样，并引入到由运算单元构成的电流环路中，从而在获得的检测电流中消除class‑AB放大器的静态电流的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于集成电路，具体涉及一种电流检测电路及电流检测方法。

技术介绍

1、传统的class-ab放大器是常用的架构，在class-ab放大器的输出级电路的电压输出端经常有检测source电流(拉电流)/sink电流(灌电流)大小的需求。常规的做法是，在输出端串联电阻进行检测，但在一些场景下，串联电阻后无法满足电路正常工作的输出电压需求。如在输出电压较高/较低的场景下，输出端口串联了电阻，source电流(拉电流)/sink电流(灌电流)较大时，很容易因电阻产生的压降而直接吞掉了输出级p型mos管/n型mos管的漏极和源极之间的电压vds(也可以说headroom和footroom较小)，使得class-ab放大器无法正常工作。

2、在一些应用中还会用到模数转换器对source电流(拉电流)/sink电流(灌电流)进行采样量化，因此对采集的电流的线性度有了一定的要求。但是class-ab放大器的静态电流较大且因一些因素，例如输出管的沟长调制效应，静态电流具有非线性，从而会将非线性引入到source电流(拉电流)/sink电流(灌电流)，影响本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电流检测电路，其特征在于，用于输出级电路，所述输出级电路包括第一输出管和第二输出管，所述第一输出管的第一端与电源电压相连，所述第一输出管的第二端与第二输出管的第二端相连形成输出端，所述第二输出管的第一端与地电压相连，所述第一输出管的控制端和第二输出管的控制端与前级电路相连，所述电流检测电路包括：

2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一采样单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一端与电源电压相连，所述第一晶体管的控制端与第一输出管的控制端相连，所述第一晶体管的第二端与运算单元相连；和/或

3.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，...

【技术特征摘要】

1.一种电流检测电路，其特征在于，用于输出级电路，所述输出级电路包括第一输出管和第二输出管，所述第一输出管的第一端与电源电压相连，所述第一输出管的第二端与第二输出管的第二端相连形成输出端，所述第二输出管的第一端与地电压相连，所述第一输出管的控制端和第二输出管的控制端与前级电路相连，所述电流检测电路包括：

2.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一采样单元包括第一晶体管，所述第一晶体管的第一端与电源电压相连，所述第一晶体管的控制端与第一输出管的控制端相连，所述第一晶体管的第二端与运算单元相连；和/或

3.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述运算单元包括第三晶体管和运算放大器，所述第三晶体管的第一端与第一采样单元、第二采样单元以及运算放大器的第一输入端相连，所述第三晶体管的控制端与运算放大器的输出端相连，所述运算放大器的第二输入端与输出端相连，所述第三晶体管的第二端用于输出检测电流。

4.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述第一采样单元和第二采样单元以相同的比例进行采样。

5.根据权利要求1所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括采集处理单元，所述采集处理单元与运算单元相连以用于对检测电流进行采集转换以产生用于表征检测电流的表征信号。

6.根据权利要求5所述的电流检测电路，其特征在于，所述采集处理单元包括转换电阻，所述转换电阻的第一端与运算单元相连以接收检测电流并产生表征信号，所述转换电阻的第二端与电源电压或地电压相连；或者

7.根据权利要求3所述的电流检测电路，其特征在于，所述电流检测电路还包括开关单元和采集处理单元，所述运算放大器的第一输入端和第二输入端通...

【专利技术属性】
技术研发人员：毕加昊，
申请(专利权)人：思瑞浦微电子科技上海有限责任公司，
类型：发明
国别省市：