一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的装置及方法制造方法及图纸

技术编号:43564791 阅读:29 留言:0更新日期:2024-12-06 17:36
本发明专利技术涉及铅房技术领域,具体涉及一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的装置及方法,通过实验测试装置测试理论铅厚度,测试的时候从厚往薄的减少,直到辐射达到临界值,形成理论实验数据;根据实验数据理论支撑,直接用到实物铅房上,铅厚度也是从薄往厚加,直到铅厚度符合国家标准,成功将铅房5个面的铅厚度减薄,且辐射也能满足国家标准,大大减少经济成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及铅房,尤其涉及一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的装置及方法


技术介绍

1、铅房是一种由铅制成的辐射防护装置,主要作用是防止辐射,如x射线、y射线和中子射线等,对人体和周围环境造成的潜在危害,它通过使用高密度的铅材料来吸收和阻挡这些有害射线,从而确保在辐射源附近的人员和设备的安全。

2、在设计铅房过程中,为了保证设备辐射泄露符合国标要求,在没有参照的情况下,往往会过度增大铅板厚度安全冗余,而铅房中屏蔽的主要材料是铅,单价高,占铅房总成本一半以上,导致经济成本高。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的装置及方法,解决了现有技术在设计铅房过程中,往往会过度增大铅板厚度安全冗余,导致经济成本高的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供了一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,包括以下步骤:

3、通过实验测试装置测试理论铅厚度,形成理论实验数据;

4、将理论实验数据应用到实物铅房上进行测试

5、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,通过实验测试装置测试理论铅厚度,形成理论实验数据,所述步骤还包括:

3.如权利要求2所述的采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,通过实验测试装置测试理论铅厚度,形成理论实验数据,所述步骤还包括:

4.如权利要求3所述的采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,将理论实验数据应用到实物铅房上进行测试,所述步骤还包括:

5.如权利要求4所述的采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其...

【技术特征摘要】

1.一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.如权利要求1所述的采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,通过实验测试装置测试理论铅厚度,形成理论实验数据,所述步骤还包括:

3.如权利要求2所述的采用射线测量不同铅房厚度辐射量的方法,其特征在于,通过实验测试装置测试理论铅厚度,形成理论实验数据,所述步骤还包括:

4.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶文强侍成龙程树刚叶俊超牛桂英
申请(专利权)人:重庆日联科技有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1