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本发明涉及铅房技术领域，具体涉及一种采用射线测量不同铅房厚度辐射量的装置及方法，通过实验测试装置测试理论铅厚度，测试的时候从厚往薄的减少，直到辐射达到临界值，形成理论实验数据；根据实验数据理论支撑，直接用到实物铅房上，铅厚度也是从薄往厚加，...
该专利属于重庆日联科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆日联科技有限公司授权不得商用。

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