一种LPCAMM内存模组测试电路及方法技术

本发明专利技术公开了一种LPCAMM内存模组测试电路及方法，测试电路包括：主控模块，用于接收PC上位机的指令并输出不同的驱动控制信号；接口模块，连接于主控模块，包括若干个64P通道板，通过探针EVB板连接待测产品，实现信号的传输和测试；通讯模块，连接于主控模块，用于与PC上位机进行通讯，接收测试指令并发送测试结果；信号控制模块，连接于主控模块，用于控制待测产品的上下电操作；电源模块，分别连接于主控模块和信号控制模块，用于为主控模块和待测产品供电。相比于现有技术，本发明专利技术设计了一种针对现有测试设备的测试电路及方法以对LPCAMM内存模组进行测试，该测试电路及方法同时支持多种性能测试且测试步骤简易，不仅降低了测试成本还提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及内存模组性能测试，尤其涉及一种lpcamm内存模组测试电路及方法。

技术介绍

1、随着技术的不断进步，新型内存模组如lpcamm正逐步崭露头角。然而，在当前测试设备市场中，由于其作为新兴产品的特性，市场认知度与占有率相对较低，这直接导致了相关测试设备的稀缺与高昂价格。

2、目前，针对相关测试设备的稀缺与高昂价格的问题，现有市场上已开发有针对内存模组lpcamm的新型测试装备。然而，其存在测试功能单一，测试步骤繁琐，从而导致测试成本增加的问题。

技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种lpcamm内存模组测试电路及方法，旨在解决现有内存模组lpcamm的新型测试装备存在测试功能单一，测试步骤繁琐，从而导致测试成本增加的问题。

2、为解决上述技术问题，本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的：

3、本申请实施例的第一方面提供了一种lpcamm内存模组测试电路，包括：

4、主控模块，用于接收pc上位机的指令并输出不同的驱动控制信号；

5、本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种LPCAMM内存模组测试电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的LPCAMM内存模组测试电路，其特征在于，所述电源模块包括第一电源模块和第二电源模块，所述第一电源模块包括第一开关电源与行程开关，所述第一开关电源的VCC端口与所述主控模块的+5V端口连接，所述第一开关电源的接地端与所述主控模块的第一接地端口连接，所述行程开关的一端与所述第一开关电源的接地端连接，另一端与所述主控模块的常开触点端口连接；

3.根据权利要求1所述的LPCAMM内存模组测试电路，其特征在于，所述信号控制模块为一光耦继电器板，所述信号控制模块的接地端口与所述主控模块的第二接...

【技术特征摘要】

1.一种lpcamm内存模组测试电路，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的lpcamm内存模组测试电路，其特征在于，所述电源模块包括第一电源模块和第二电源模块，所述第一电源模块包括第一开关电源与行程开关，所述第一开关电源的vcc端口与所述主控模块的+5v端口连接，所述第一开关电源的接地端与所述主控模块的第一接地端口连接，所述行程开关的一端与所述第一开关电源的接地端连接，另一端与所述主控模块的常开触点端口连接；

3.根据权利要求1所述的lpcamm内存模组测试电路，其特征在于，所述信号控制模块为一光耦继电器板，所述信号控制模块的接地端口与所述主控模块的第二接地端口连接，所述信号控制模块的ctrl端口与所述主控模块的up_ctrl端口连接，所述信号控制模块的常开触点接口一端连接有输出引脚，所述信号控制模块的com端口连接有电源输入引脚。

4.根据权利要求1所述的lpcamm内存模组测试电路，其特征在于，所述主控模块包括若干输入端口和工装指示灯接口，所述输入端口与所述64p通道板连接，所述工装指示灯接口连接于工...

【专利技术属性】
技术研发人员：达龙科，梁展豪，曹胜，马杰伟，
申请(专利权)人：深圳忆芯信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：