【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，特别涉及芯片系统级测试装置。
技术介绍
1、目前芯片测试常用的平台有ate(auto test equipment，自动测试设备)测试平台和slt(system level test，系统级测试)测试平台。ate测试是控制芯片进入测试模式，通过执行测试向量来测试芯片内部的逻辑链路是否符合设计。ate测试的优点是测试覆盖率高，缺点是测试开发周期长和测试成本高。slt测试是模拟芯片在终端的使用场景，通过运行这些模拟场景来实现对芯片功能的测试。slt测试平台因为不需要用到测试机，测试成本低，但是硬件电路设计复杂，测试资源有限，且测试覆盖率存在明显不足，无法进行os(open-short)开短路测试。
技术实现思路
1、本专利技术提供芯片系统级测试装置，其不仅能够有效简化slt测试的硬件电路结构，还能够实现os开短路测试，提高测试覆盖率。
2、在本专利技术的一个方面，提供一种芯片系统级测试装置。该装置包括：电源模块，被配置为基于测试指令对待测芯片进行供电，并且检...
【技术保护点】
1.一种芯片系统级测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述接口测试模块被配置为基于所述测试指令并行地对所述待测芯片的所述第一类型接口和所述第二类型接口进行接口信号测试。
3.根据权利要求1所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述通讯模块被配置为：
5.根据权利要求4所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述电源模块被配置为：
6.根据权利要求1所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述开短路测
...【技术特征摘要】
1.一种芯片系统级测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述接口测试模块被配置为基于所述测试指令并行地对所述待测芯片的所述第一类型接口和所述第二类型接口进行接口信号测试。
3.根据权利要求1所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述通讯模块被配置为：
5.根据权利要求4所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述电源模块被配置为：
6.根据权利要求1所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述开短路测试模块包括：
7.根据权利要求6所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，每一所述采样单元包括：
8.根据权利要求7所述的芯片系统级测试装置，其特征在于，所述测试单元被配置为：
...【专利技术属性】
技术研发人员：林福珍，朱丽娟，薛志明，
申请(专利权)人：瑞芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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