温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了芯片系统级测试装置。该装置包括：电源模块，被配置为基于测试指令对待测芯片进行供电，并且检测所述待测芯片的电源引脚的漏电流；开短路测试模块，被配置为基于所述测试指令向所述待测芯片的输入输出引脚发送驱动电平，以测试所述待测芯片的所述...
该专利属于瑞芯微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞芯微电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。