【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，具体地，涉及一种芯片测试系统及方法。
技术介绍
1、随着国内半导体的发展，芯片的自动化测试程度也越来越高。自动测试设备（automatic test equipment，ate），简称测试机，是一种专门用于芯片测试的自动化设备，它通过对芯片测试，评估其性能、功能，达到确保芯片符合设计要求。在芯片设计和生产过程中，ate测试早已成为确保芯片质量的关键手段，有助于发现和解决潜在的各种问题。分选机（handler）主要用于集成电路测试、编带领域，基本都与测试机搭配使用，其主要是在芯片封装完成后，通过测试机和分选机的配合使用，对成品进行功能及稳定性测试，再根据器件测试结果进行分选、记录、编带和统计，保证送于客户的芯片成品的功能和性能指标符合设计规范。
2、测试机和分选机通过通信协议进行指令和数据的通信，在现有技术中，若是分选机或测试机两者或两者之一出现故障发生错误，测试人员并不能及时知晓，只能在整个测试批次芯片测试结束后才能发现，同时测试机和分选机也不能记录出现错误的具体时间，导致在核查错误时浪费大量人力和时...
【技术保护点】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试数据监控模块包括：
3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试结果包括良品测试结果和异常测试结果，所述异常测试结果包括多个子异常测试结果，每个子异常测试结果对应一类异常参数。
4.根据权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，所述计数单元还用于分别对良品测试结果和每个子异常测试结果分别进行计数，并将良品测试结果计数值和所有子异常测试结果计数值相加产生所述第三计数值。
5.根据权利要求4所述的芯片测试系统，其...
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试数据监控模块包括：
3.根据权利要求2所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试结果包括良品测试结果和异常测试结果，所述异常测试结果包括多个子异常测试结果，每个子异常测试结果对应一类异常参数。
4.根据权利要求3所述的芯片测试系统，其特征在于，所述计数单元还用于分别对良品测试结果和每个子异常测试结果分别进行计数，并将良品测试结果计数值和所有子异常测试结果计数值相加产生所述第三计数值。
5.根据权利要求4所述的芯片测试系统，其特征在于，所述测试数据监控模块还包括：
6.根据权利要求5...
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