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本发明涉及芯片测试技术领域，提供一种芯片测试系统及方法，该芯片测试系统，包括：分选机，用于对待测芯片进行抓取并放置到对应的控制台，随后向测试机发出开始指令，并同步发送至测试数据监控模块；测试机，用于在收到开始指令后对待测芯片进行参数测试，并...
该专利属于晶艺半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶艺半导体有限公司授权不得商用。

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