【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及半导体加工用保护片和半导体装置的制造方法。
技术介绍
1、半导体的制造工序中,使用各种保护片。具体而言有在半导体晶圆的里面研削(背部研磨)步骤中用于保护晶圆的保护片(背部研磨胶带)、以及从半导体晶圆切断分割(切割)成组件小片的步骤中所使用的固定用片(切割胶带)等。这些保护片是被贴合于作为被粘附体的半导体晶圆,结束所定加工步骤后从被粘附体进行剥离的再剥离型保护片。
2、近年来,随着电子机器的小型化及高密度化,作为能够使半导体组件以最小面积安装的方法,倒装芯片安装正成为主流。在倒装芯片安装中,为了实现芯片间的接合,使用具有拥有由焊接所成的顶端部的突起电极(凸块)的半导体芯片(例如through siliconvia(tsv)芯片)。该附有凸块的半导体芯片,与其他半导体芯片或基板,通过加热到焊接的熔融温度以上的温度(通常为200℃以上)的回流焊步骤而经电接合而安装。然而,在通讯用的电子机器上安装半导体芯片的情况,有时会有从芯片内部所产生的电磁波造成通信障碍产生的情况。要防止这种情况,也有时对半导体芯片外周部进行蒸镀(
...【技术保护点】
1.一种半导体加工用保护片,具有基材、和依次设置在所述基材的一主面上的中间层与粘合剂层,
2.如权利要求1所述的半导体加工用保护片,所述中间层的厚度为30~600μm,所述粘合剂层的厚度为5~100μm,所述中间层与所述粘合剂层的厚度之比、即中间层/粘合剂层为1~50。
3.如权利要求1或2所述的半导体加工用保护片,所述不具有烯属不饱和基的(甲基)丙烯酸系树脂(A1)的玻璃化转变温度(Tg)为-80~0℃。
4.如权利要求1或2所述的半导体加工用保护片,所述不具有烯属不饱和基的(甲基)丙烯酸系树脂(A1)为含有(甲基)丙烯酸烷基酯(
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种半导体加工用保护片,具有基材、和依次设置在所述基材的一主面上的中间层与粘合剂层,
2.如权利要求1所述的半导体加工用保护片,所述中间层的厚度为30~600μm,所述粘合剂层的厚度为5~100μm,所述中间层与所述粘合剂层的厚度之比、即中间层/粘合剂层为1~50。
3.如权利要求1或2所述的半导体加工用保护片,所述不具有烯属不饱和基的(甲基)丙烯酸系树脂(a1)的玻璃化转变温度(tg)为-80~0℃。
4.如权利要求1或2所述的半导体加工用保护片,所述不具有烯属不饱和基的(甲基)丙烯酸系树脂(a1)为含有(甲基)丙烯酸烷基酯(a1-1)和具有羟基的(甲基)丙烯酸酯(a1-2)的单体群(m1)的共聚物,
5.如权利要求4所述的半导体加工用保护片,所述单体群(m1)还包含具有羧基的烯属不饱和化合物(a1-3)。
6.如权利要求4所述的半导体加工用保护...
【专利技术属性】
技术研发人员:直田耕治,汤本敬太,佐佐木一博,
申请(专利权)人:株式会社力森诺科,
类型:发明
国别省市:
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