【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体,具体涉及一种pvt法生长高纯4h-sic单晶的方法。
技术介绍
1、sic物理化学性能稳定,具有禁带宽、饱和电子迁移率高、击穿电场强度高、热导率高等特点,被看作是半导体材料领域最有前景的材料之一。sic晶体也是氮化镓、碳化硅等外延膜的理想衬底,具有晶格匹配性高、导热性好等特点。与以si为代表的第一代半导体材料和以gaas为代表的第二代半导体材料相比有着明显的优越性,是制造光电子器件、高频大功率器件、高温电子器件理想的半导体材料,目前在白光照明、光存储、屏幕显示、航天航空、高温辐射环境、石油勘探、自动化、雷达与通信、汽车电子化等方面都有广泛应用。
2、目前,物理气相传输法(简称pvt)为sic单晶的主流生长方法,其具体生长方法为:在坩埚顶部放置籽晶,在坩埚底部添加粉料,将坩埚热场放置于晶体生长炉内,坩埚底部温度高,顶部温度低,通过控制温度和压力,使底部粉料逐渐升华,传输至顶部籽晶处凝华结晶,从而实现sic单晶的生长。目前该方法已经成为行业的主流方法,并实现了sic的规模生产。
3、sic晶体结
...【技术保护点】
1.一种PVT法生长高纯4H-SiC单晶的方法,其特征在于:在PVT法Si C晶生长之前,对SiC衬底的Si面进行电化学刻蚀预处理,提供更多的成核位点,降低4H在Si面的成核能,为4H-SiC成核生长提供窗口,减少氮元素的吸收,稳定高纯4H-SiC单晶的生长。
2.根据权利要求1所述的一种PVT法生长高纯4H-SiC单晶的方法,其特征在于,所述对SiC衬底的Si面进行电化学刻蚀预处理的具体步骤为:
3.根据权利要求2所述的一种PVT法生长高纯4H-SiC单晶的方法,其特征在于:所述步骤(2)中,衬底的C面与石墨电极之间通过导电胶粘连或真空吸附连
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【技术特征摘要】
1.一种pvt法生长高纯4h-sic单晶的方法,其特征在于:在pvt法si c晶生长之前,对sic衬底的si面进行电化学刻蚀预处理,提供更多的成核位点,降低4h在si面的成核能,为4h-sic成核生长提供窗口,减少氮元素的吸收,稳定高纯4h-sic单晶的生长。
2.根据权利要求1所述的一种pvt法生长高纯4h-sic单晶的方法,其特征在于,所述对sic衬底的si面进行电化学刻蚀预处理的具体步骤为:
3.根据权利要求2所述的一种pvt法生长高纯4h-sic单晶的方法,其特征在于:所述步骤(2)中,衬底的c面与石墨电极之间通过导电胶粘连或真空吸附连接。
4.根据权利要求2所述的一种pvt法生长高纯4...
【专利技术属性】
技术研发人员:徐永宽,刘俊平,马文成,齐小方,陈建丽,
申请(专利权)人:天津理工大学,
类型:发明
国别省市:
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