一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及芯片诊断覆盖率技术领域，公开了一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置，包括以下步骤：根据RTL代码阶段的安全机制设计，通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上，对芯片模块进行诊断覆盖率的测试；获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障所进行诊断覆盖率的测试结果；计算被归类的测试结果各自在总体测试结果中的占比，并基于ISO26262标准评判所述安全机制在工作状态下的诊断覆盖率。针对仿真评估诊断覆盖率不够合理、准确的特征设计多种测试情况，并据此设置多个诊断覆盖率的计算公式，通过故障注入仿真为仿真数据，以更合理的计算模型带入仿真数据，计算出更为准确、更为合理的仿真覆盖率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片诊断覆盖率，特别涉及一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置。

技术介绍

1、针对车用半导体功能安全的内容于2018年在iso 26262:2018版的第11部分提出，突出了车规半导体功能安全的重要性。车规芯片功能安全设计中的安全机制诊断覆盖率可以为验证车规芯片功能安全开发的完整性和正确性提供方法和指导，并且为芯片使用方提供芯片应用层的依据和参考。

2、安全机制有效率主要指安全机制的诊断覆盖率，覆盖率描述的是当真实物理的风险发现，即芯片设计仿真测试中故障被注入的情况下，安全机制能够及时发现，并使系统作出有效反应的概率。诊断覆盖率(dc)是功能安全机制设计的核心测试指标，针对车规芯片诊断覆盖率计算方法通常采用仿真测试，仿真测试中仅能对于单个测试激励或单个安全机制进行仿真评估诊断覆盖率，常规下被测模块仅有一个故障注入仿真测试用例情况，可直接通过仿真计算诊断覆盖率，即：

3、但在实际应用中，普遍存在被测模块拥有多个安全机制以及多种仿真环境，所以要配套多个故障注入仿真测试激励，上述常规dc计算模型就再无法满足dc计算需求，且仅通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：所述通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上时，对芯片模块进行诊断覆盖率的测试，包括：

3.根据权利要求2所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：注入所述不同类型的故障包括：

4.根据权利要求1所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障进行诊断覆盖率的测试结果，包括：

5.根据权利要求1所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类...

【技术特征摘要】

1.一种芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：所述通过eda工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上时，对芯片模块进行诊断覆盖率的测试，包括：

3.根据权利要求2所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：注入所述不同类型的故障包括：

4.根据权利要求1所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障进行诊断覆盖率的测试结果，包括：

5.根据权利要求1所述的芯片诊断覆盖率计算方法，其特征在于：获取并归类所述芯片模块根据注入的不同类型故障进行诊断覆盖率的测试结果，包括：

6.根据权利要求3所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷黎丽，张峻卿，
申请(专利权)人：北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：