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本发明涉及芯片诊断覆盖率技术领域,公开了一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置,包括以下步骤:根据RTL代码阶段的安全机制设计,通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上,对芯片模块进行诊断覆盖率的测试;获取并归类所述芯片模块根据注入的...该专利属于北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司授权不得商用。
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本发明涉及芯片诊断覆盖率技术领域,公开了一种芯片诊断覆盖率计算方法及装置,包括以下步骤:根据RTL代码阶段的安全机制设计,通过EDA工具将不同类型的故障注入到指定的芯片模块上,对芯片模块进行诊断覆盖率的测试;获取并归类所述芯片模块根据注入的...