【技术实现步骤摘要】
本申请涉及产品上下料,特别是涉及一种上下料装置及方法。
技术介绍
1、在自动化生产加工以及测试作业过程中,产品通常伴随有上下料动作。如在芯片进行测试作业时,需将待测试的芯片上料至测试位进行电性压接测试,且在芯片测试作业完成之后,测试完后的芯片需进行下料作业,以将测试完后的芯片流转至下一工序进行处理。
2、目前,在产品的上下料过程中,通过机械臂同时抓取多个产品,将多个产品同步送至测试位进行测试作业,但在针对多个测试位的上下料作业时,机械臂需依次运动至各测试位进行产品的次序上料,且在产品测试完成之后,机械臂又需依次运动至各测试位进行产品的次序下料。由于产品在各测试位进行上下料需消耗一定时间,即产品需等待上一测试位完成上下料作业之后,才能继续流转至下一测试位进行产品的上下料作业,导致产品在各测试位的上下料作业需花费较长时间,严重影响产品的上下料效率。
技术实现思路
1、基于此,有必要针对现有产品上下料效率过低的问题,提供一种上下料装置及方法。
2、一种上下料装置,所述上下
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1.一种上下料装置,其特征在于,所述上下料装置包括:
2.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述上料模组具有第一收拢状态与第一伸张状态,当所述上料模组处于所述第一收拢状态时,多根所述上料轴并列位于所述上料位,当所述上料模组处于所述第一伸张状态时,多根所述上料轴对应运动至多个所述测试位;
3.根据权利要求1或2任一项所述的上下料装置,其特征在于,在所述产品的上料过程中,多根所述上料轴可同步运动至所述上料位,且多根所述上料轴可同步运动至对应的所述测试位;
4.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述机台具有取料位与放料
...【技术特征摘要】
1.一种上下料装置,其特征在于,所述上下料装置包括:
2.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述上料模组具有第一收拢状态与第一伸张状态,当所述上料模组处于所述第一收拢状态时,多根所述上料轴并列位于所述上料位,当所述上料模组处于所述第一伸张状态时,多根所述上料轴对应运动至多个所述测试位;
3.根据权利要求1或2任一项所述的上下料装置,其特征在于,在所述产品的上料过程中,多根所述上料轴可同步运动至所述上料位,且多根所述上料轴可同步运动至对应的所述测试位;
4.根据权利要求1所述的上下料装置,其特征在于,所述机台具有取料位与放料位,所述取料位堆叠有待测所述产品,所述放料位供测试完后所述产品的放料;
5.根据权利要求4所述的上下料装置,其特征在于,所述放料模组还包括与多个所述第二吸附模块对应的多个第二驱动件,所述第二驱动件与对应的所述第二吸附模块传动连接。
6.根据权利要求4所述的上下料装置,其特征在于,所述上下料装置还包括取盘模组,所述取盘...
【专利技术属性】
技术研发人员:倪彬,史赛,
申请(专利权)人:苏州华兴源创科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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