缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备和可读存储介质。方法包括：获取待测物体对应的结构光反射图像，并对结构光反射图像进行目标检测，得到至少一个目标图像区域；对目标图像区域进行掩模图像转化，得到目标区域掩模图像；基于结构光反射图像对应的初始绝对相位数据进行三维重建，得到第一三维重建模型；基于目标区域掩模图像中提取的目标绝对相位数据，对第一三维重建模型进行修正，得到第二三维重建模型；根据第二三维重建模型，对待测物体进行缺陷尺寸测量。采用本方法能够准确进行缺陷尺寸测量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及智能制造，特别是涉及一种缺陷检测方法、装置、系统、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

1、随着智能制造技术的发展，对物体的缺陷进行检测成为了一种热门的技术，通过对物体的缺陷进行检测，得到缺陷检测结果，再基于缺陷检测结果，准确判断是否需要对物体进行维护，有效提高了物体的使用寿命。

2、传统技术中，对物体缺陷进行检测的方法通常是采用如实时目标检测类的算法进行缺陷的实时检测，能够准确有效地检测到缺陷像素数量，具体来说，通过同一类型的物体的历史缺陷数据训练缺陷测量模型，再通过训练完成的缺陷测量模型对待检测物体进行缺陷检测，以得到待检测物体的初始缺陷测量结果，其中，历史缺陷数据中包括历史缺陷及其对应的缺陷像素数量，缺陷测量结果包括缺陷像素数量。再通过光学系统分辨率对初始缺陷测量结果进行换算，以得到缺陷尺寸大小。

3、然而，目前的缺陷检测方式，存在无法准确测量缺陷尺寸的问题。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种准确测量缺陷尺寸的缺陷检测方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测物体对应的结构光反射图像，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述目标区域调制度图像进行掩膜图像转化，生成目标区域初始掩模图像，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述灰度二值化阈值，将所述目标区域归一化调制度图像转换为目标区域二值图像，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述结构光反射图像对应的初始绝对相位数据进行三维重建，得到第一三维重建模型，包括：</p>

6.根据...

【技术特征摘要】

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测物体对应的结构光反射图像，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述目标区域调制度图像进行掩膜图像转化，生成目标区域初始掩模图像，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述灰度二值化阈值，将所述目标区域归一化调制度图像转换为目标区域二值图像，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述结构光反射图像对应的初始绝对相位数据进行三维重建，得到第一三维重建模型，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘学文，葛俊辉，杨东，沈小龙，张兆威，
申请(专利权)人：湖南视比特机器人有限公司，
类型：发明
国别省市：