【技术实现步骤摘要】
本公开涉及数据处理，特别是涉及一种采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质。
技术介绍
1、随着相机的不断发展，在vr/全景相机领域中，成像效果是判断vr/全景相机好坏的一个重要因素，而图像处理算法往往影响着成像效果。图像处理算法如果不达标，在全景图像合成后在终端显示时会造成显示效果较差，例如使用终端的用户在观看全景图像时，会给用户造成眩晕感，从而降低产品的销量。而在图像处理算法中，imu（inertialmeasurement unit）是算法依赖的硬件之一，imu比较重要的指标是数据输出速率odr(output data rate)。
2、通常，imu在采样时会根据预先设置的采样率进行采样，在app层（应用层）中设置大于800hz的采样率后，由于安卓中hal（hardware abstract layer）层和framework层的限制，会自动的修改采样率为1.25ms对信号进行一次采样，使得只能够以800hz的采样率进行采集和输出数据，无法实现获取更高采样率的imu的数据。从而无法达到更加准确的显示效果。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够实现获取更高采样率的imu的数据，从而无法达到更加准确的显示效果的采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质。
2、第一方面，本公开提供了一种采样率调整方法。所述方法包括：
3、获取惯性测量单元中所包含的每个传感器的目标采样率，其中，所述目标采样率基于预设的第一采样时间和第一
4、响应于存在大于预设采样率阈值的目标采样率，确定大于预设采样率阈值的目标采样率相匹配的第一传感器；
5、在硬件抽象层中确定控制所述第一传感器的采样率的第一采样逻辑，且在硬件抽象层中生成控制所述第一传感器的采样率的第二采样逻辑；
6、基于大于预设采样率阈值的目标采样率的第一采样时间和第一采样速率，确定第一采样周期；
7、根据所述目标采样率、所述采样率阈值、所述第一采样周期、所述第一采样逻辑、所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器，得到目标采样结果。
8、在其中一个实施例中，所述第一采样逻辑的优先级高于所述第二采样逻辑；所述根据所述目标采样率、所述采样率阈值、所述第一采样周期、所述第一采样逻辑、所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器，得到目标采样结果，包括：
9、根据所述目标采样率和所述采样率阈值差值，调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果，得到目标采样结果；
10、或者，屏蔽所述第一采样逻辑，根据所述第一采样周期和所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器的采样率，利用调整后的所述第一传感器的采样率，得到目标采样结果。
11、在其中一个实施例中，所述根据所述目标采样率和所述采样率阈值的差值，调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果，得到目标采样结果，包括：
12、根据所述目标采样率和所述采样率阈值，计算采样率差值；
13、利用所述第一采样逻辑控制所述第一传感器进行采样，得到第一采样结果；
14、利用所述插值法和所述采样率差值调整所述第一采样结果，得到目标采样结果。
15、在其中一个实施例中，所述利用所述插值法和所述采样率差值调整所述第一采样结果，得到目标采样结果，包括：
16、基于所述插值法和第一采样结果，确定与所述采样率差值相匹配的插值采样结果；
17、响应于所述插值采样结果的数量小于等于预设的插值阈值，基于卡尔曼滤波修正所述插值采样结果，得到插值修正采样结果；
18、响应于所述插值采样结果的数量大于预设的插值阈值，基于互补滤波修正所述插值采样结果，得到插值修正采样结果；
19、基于所述插值修正采样结果和所述第一采样结果，得到目标采样结果。
20、在其中一个实施例中，所述基于所述插值法和第一采样结果，确定与所述采样率差值相匹配的插值采样结果之后，所述方法还包括：
21、根据第一采样结果的数量，选择互补滤波或者卡尔曼滤波对第一采样结果进行修正。
22、在其中一个实施例中，所述第二采样逻辑中包括多个采样条件，以及与每个采样条件相对应的标识信息；所述根据所述第一采样周期和所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器的采样率，利用调整后的所述第一传感器的采样率，得到目标采样结果，包括：
23、根据所述第一采样周期和所述多个采样条件，确定满足所述第一采样周期的采样条件；
24、确定与所述满足所述第一采样周期的采样条件相对应的标识信息；
25、将所述标识信息发送给驱动所述惯性测量单元的驱动模块，以指示所述驱动模块根据所述标识信息确定相匹配的第二采样率，利用所述第二采样率驱动所述第一传感器，得到目标采样结果，其中，所述第二采样速率大于所述采样率阈值。
26、在其中一个实施例中，所述每个采样条件包括基于第二采样率的第二采样时间和第二采样速率确定的第二采样周期；所述根据所述第一采样周期和所述多个采样条件，确定满足所述第一采样周期的采样条件，包括：
27、根据所述第一采样周期和所述多个第二采样周期之间的关系，确定满足所述第一采样周期的采样条件；
28、所述根据所述第一采样周期和所述多个第二采样周期之间的关系，确定满足所述第一采样周期的采样条件，包括：
29、响应于存在与所述第一采样周期相同的第二采样周期，根据所述与所述第一采样周期相同的第二采样周期，确定满足所述第一采样周期的采样条件；
30、响应于不存在与所述第一采样周期相同的第二采样周期，根据所述第一采样周期与每个所述第二采样周期之间的差值，确定最小的所述差值对应的第二采样周期，根据所述最小的所述差值对应的第二采样周期，确定满足所述第一采样周期的采样条件。
31、第二方面，本公开还提供了一种采样率调整装置。所述装置包括：
32、数据获取模块，用于获取惯性测量单元中所包含的每个传感器的目标采样率，其中，所述目标采样率基于预设的第一采样时间和第一采样速率确定；
33、传感器确定模块，用于响应于所述目标采样率中存在大于预设采样率阈值，确定大于预设采样率阈值的目标采样率相匹配的第一传感器；
34、采样逻辑控制模块，用于在硬件抽象层中确定控制所述第一传感器的采样率的第一采样逻辑，且在硬件抽象层中生成控制所述第一传感器的采样率的第二采样逻辑；
35、采样周期确定模块，用于基于大于预设采样率阈值的目标采样率的第一采样时间和第一采样速率，确定第一采样周期；
36、采样率调整模块，用于根据所述目标采样率、所述采样率阈值、所述第一采样周期、所述第一采样逻辑、所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器，得到目标采样结果。
37、所述采样率调整模块，包括：
38、第一调整模块，用于根据所本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种采样率调整方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标采样率和所述采样率阈值的差值，调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果，得到目标采样结果，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述插值法和所述采样率差值调整所述第一采样结果，得到目标采样结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述插值法和第一采样结果，确定与所述采样率差值相匹配的插值采样结果之后，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二采样逻辑中包括多个采样条件，以及与每个采样条件相对应的标识信息；所述根据所述第一采样周期和所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器的采样率，利用调整后的所述第一传感器的采样率，得到目标采样结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述每个采样条件包括基于第二采样率的第二采样时间和第二采样速率确定的第二采样周期；所述根据所述第一采样周期和所述多个采样条件，确定满足所述第一采样周期的采样条
7.一种采样率调整装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种采样率调整方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标采样率和所述采样率阈值的差值，调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果，得到目标采样结果，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述插值法和所述采样率差值调整所述第一采样结果，得到目标采样结果，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述插值法和第一采样结果，确定与所述采样率差值相匹配的插值采样结果之后，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二采样逻辑中包括多个采样条件，以及与每个采样条件相对应的标识信息；所述根据所述第一采样周期和所述第二采样逻辑，调整所述第一传感器的采样率，利用调整后的所述第一传感器的采样率，得到目...
【专利技术属性】
技术研发人员：沈靖程，乔连伟，
申请(专利权)人：圆周率科技常州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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