采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质制造方法及图纸

技术编号:43412841 阅读:21 留言:0更新日期:2024-11-22 17:49
本公开涉及一种采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括:获取惯性测量单元中所包含的每个传感器的目标采样率;响应于存在大于预设采样率阈值的目标采样率,确定大于预设采样率阈值的目标采样率相匹配的第一传感器;在硬件抽象层中确定控制第一传感器的采样率的第一采样逻辑,且在硬件抽象层中生成控制第一传感器的采样率的第二采样逻辑;基于大于预设采样率阈值的目标采样率的第一采样时间和第一采样速率,确定第一采样周期;根据目标采样率、采样率阈值、第一采样周期、第一采样逻辑、第二采样逻辑,调整第一传感器,得到目标采样结果。采用本方法能够获取更高采样率的IMU的数据。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及数据处理,特别是涉及一种采样率调整方法、装置、计算机设备、存储介质


技术介绍

1、随着相机的不断发展,在vr/全景相机领域中,成像效果是判断vr/全景相机好坏的一个重要因素,而图像处理算法往往影响着成像效果。图像处理算法如果不达标,在全景图像合成后在终端显示时会造成显示效果较差,例如使用终端的用户在观看全景图像时,会给用户造成眩晕感,从而降低产品的销量。而在图像处理算法中,imu(inertialmeasurement unit)是算法依赖的硬件之一,imu比较重要的指标是数据输出速率odr(output data rate)。

2、通常,imu在采样时会根据预先设置的采样率进行采样,在app层(应用层)中设置大于800hz的采样率后,由于安卓中hal(hardware abstract layer)层和framework层的限制,会自动的修改采样率为1.25ms对信号进行一次采样,使得只能够以800hz的采样率进行采集和输出数据,无法实现获取更高采样率的imu的数据。从而无法达到更加准确的显示效果。

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技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种采样率调整方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标采样率和所述采样率阈值的差值,调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果,得到目标采样结果,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用所述插值法和所述采样率差值调整所述第一采样结果,得到目标采样结果,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述插值法和第一采样结果,确定与所述采样率差值相匹配的插值采样结果之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二采样逻辑中...

【技术特征摘要】

1.一种采样率调整方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标采样率和所述采样率阈值的差值,调整利用所述第一采样逻辑得到的所述第一传感器的采样结果,得到目标采样结果,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述利用所述插值法和所述采样率差值调整所述第一采样结果,得到目标采样结果,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述插值法和第一采样结果,确定与所述采样率差值相匹配的插值采样结果之后,所述方法还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二采样逻辑中包括多个采样条件,以及与每个采样条件相对应的标识信息;所述根据所述第一采样周期和所述第二采样逻辑,调整所述第一传感器的采样率,利用调整后的所述第一传感器的采样率,得到目...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈靖程乔连伟
申请(专利权)人:圆周率科技常州有限公司
类型:发明
国别省市:

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