【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子元器件检测装置,具体涉及一种电子元器件外观缺陷检测装置。
技术介绍
1、电子元器件外观缺陷检测装置是一种用于检测电子元器件外观缺陷的设备,电子元器件外观缺陷检测装置可以对元器件表面的缺陷,如划痕、裂纹、氧化等进行快速、准确的检测,提高生产效率和产品质量。
2、目前,为了能够电子主板的表面进行人工检测外观时,需要使用到现有技术的电子元器件外观缺陷检测装置在使用过程中存在以下缺点:一般会采用采用照明结构和放大镜来辅助人工检测电子主板的外观,但是照明结构和放大镜的角度和高度不方便调节,无法满足不同检测工作人员的使用需求,且在使用完后不便于进行折叠收纳保护,导致照明结构和放大镜暴漏在生产车间外部,大大降低其使用寿命,为此,我们提出了一种电子元器件外观缺陷检测装置。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种电子元器件外观缺陷检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种电子元器件外观缺陷检测装置,包括收纳盒,收纳盒
...【技术保护点】
1.一种电子元器件外观缺陷检测装置,包括收纳盒(1),收纳盒(1)的底端四周均固接有支撑脚(3),其特征在于,所述收纳盒(1)的外侧铰接有盖板(2),盖板(2)上安装有高度调整结构(4),高度调整结构(4)还通过角位调整结构(5)连接有连接罩(6),连接罩(6)的中部贯穿口中固接有放大镜(61),放大镜(61)的外侧还设有固接于连接罩(6)底端环形凹槽中的O型LED灯管(62);
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观缺陷检测装置,其特征在于:所述高度调整结构(4)包括盖板(2)的内侧开设的调节通道,调节通道的顶端与外部相连通,调节通道均活动插设有横截
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件外观缺陷检测装置,包括收纳盒(1),收纳盒(1)的底端四周均固接有支撑脚(3),其特征在于,所述收纳盒(1)的外侧铰接有盖板(2),盖板(2)上安装有高度调整结构(4),高度调整结构(4)还通过角位调整结构(5)连接有连接罩(6),连接罩(6)的中部贯穿口中固接有放大镜(61),放大镜(61)的外侧还设有固接于连接罩(6)底端环形凹槽中的o型led灯管(62);
2.根据权利要求1所述的一种电子元器件外观缺陷检测装置,其特征在于:所述高度调整结构(4)包括盖板(2)的内侧开设的调节通道,调节通道的顶端与外部相连通,调节通道均活动插设有横截面呈凸形结构的调节座(41),调节座(41)上靠近其顶部的外侧壁与角位调整结构(5)相连。
3.根据权利要求2所述的一种电子元器件外观缺陷检测装置,其特征在于:所述盖板(2)的外侧螺纹连接有手拧螺钉(42),手拧螺钉(42)锁紧后抵紧在调节座(41)背离角位调整结构(5)的一侧壁上。
4.根据权利要求3所述的一种电子元器件外观缺陷检测装置,其特征在于:所述角位调整结构(5)包括在调节座(41)上靠近其顶部的外侧壁固接有支撑块(51),支撑块(51)上固接有转动柱(52),转动柱(5...
【专利技术属性】
技术研发人员:杨国牛,毛雪,
申请(专利权)人:扬州西谷航测检测技术服务有限公司,
类型:新型
国别省市:
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