【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
1、质谱法是测量离子的质荷(m/z)比的分析技术。结果呈现为质谱，通常为作为质荷比的函数的强度的绘图。然而，这些结果通常未能给操作员提供一些可以有助于识别样品的特性的信息。因此，用于增强ms分析的结果及其呈现的系统和方法是期望的。
技术实现思路
1、专利技术人认识到对于ms分析的增强结果的需求。本文公开了一种解决方案，提供了在质谱法(ms)检测中执行等电点(pi)标记的校准的系统和方法。具体地，公开了一种从针对样品获取的ms数据生成包括与样品相关联的一个或多个pi标记的输出的方法。从输出中识别一个或多个pi标记，以及与该一个或多个pi标记相关联的同位素或电荷状态。基于识别的同位素或电荷状态，将时间值(其存在于ms分析的结果中)与识别的一个或多个pi标记相关联，然后可以将其以图形形式呈现给操作员。例如，可以向操作员呈现具有在x轴上的pi相对在y轴上的强度的图形表示，从而向操作员提供更相关和有意义的信息。
2、本公开的一个方面涉及一种用于在质谱法(ms)检测中执行等电点...
【技术保护点】
1.一种用于在质谱法MS检测中执行等电点pI标记的校准的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括用与一个或多个参考化合物相关联的所述一个或多个pI标记对所述样品进行加标。
3.根据权利要求1所述的方法，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其中，识别与所述一个或多个pI标记相关联的所述同位素或所述电荷状态中的所述一个或多个还包括针对所述同位素或所述电荷状态提取XIC值。
5.根据权利要求1所述的方法，还包括将MS分析数据中的具有识别的所述同位素或所述电荷状态中的一个或多个的多个峰与所述时间值中的一个或...
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于在质谱法ms检测中执行等电点pi标记的校准的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括用与一个或多个参考化合物相关联的所述一个或多个pi标记对所述样品进行加标。
3.根据权利要求1所述的方法，还包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其中，识别与所述一个或多个pi标记相关联的所述同位素或所述电荷状态中的所述一个或多个还包括针对所述同位素或所述电荷状态提取xic值。
5.根据权利要求1所述的方法，还包括将ms分析数据中的具有识别的所述同位素或所述电荷状态中的一个或多个的多个峰与所述时间值中的一个或多个时间值相关联。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述pi标记对应于与化合物相关联的一个或多个迹线的重叠峰。
7.根据权利要求6所述的方法，其中，在所述输出中识别所述一个或多个pi标记还包括：
8.根据权利要求7所述的方法，还包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其中，通过将对应于峰的强度值与一个或多个对齐阈值量进行比较来确定对齐。
10.一种用于在质谱法ms检测中执行化合物标记的校准的方法，所述方法包括：
11.根据权利要求1-10中任一项所述的方法，还包括用与一个或多个参考化合物相关联的一个或多个化合物标记或肽标记对所述样品...
【专利技术属性】
技术研发人员：L·L·伯顿，
申请(专利权)人：DH科技发展私人贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：
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