【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及粒径测量，具体涉及应用于硅质渣合成的粒径测量方法。
技术介绍
1、目前，各种固废渣排放量较大而使用率较低，带来诸多严重问题。大量堆积且管理不善的固废渣易引发渣堆坍塌等地质性灾害；部分废渣含重金属及选矿药剂，长时间堆积会污染水资源、破坏生态系统。然而，固废渣也有利用价值，如硅质渣主要由硅、钙和其他化学元素结合而成的化合物组成，在冶金过程中形成，通常含有氧化铝和碱，成分使其具有一定化学活性，可在工业生产中发挥重要作用。其中含铁在7-8%之间，铝8%左右、钙12%左右、水分含量保持在6%左右，具有一定硬度，适合在工业应用中作为磨料或填充材料。
2、在硅质渣回收利用过程中，采用激光粒度仪进行粒径测定至关重要。准确测定硅质渣的粒径大小及其分布，对其后续处理、利用和性能表现有着关键影响。例如，在加工处理过程中，依据粒径结果可优化工艺参数，提高处理效率和产品质量；有助于深入研究硅质渣性能，为开发高附加值产品提供理论依据；还能实现对产品质量的严格控制。
3、但目前在硅质渣粒径测定中，不同批次抽样的硅质渣颗粒大小和形...
【技术保护点】
1.应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述分布曲线由激光粒度仪对每份抽样样本进行检测得到。
3.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述粒径范围差异为抽样样本之间粒径范围的交并比。
4.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述粒径特征差异值由平均粒径差异与粒径范围差异进行反向融合得到。
5.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述同类粒径组的划分方...
【技术特征摘要】
1.应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述分布曲线由激光粒度仪对每份抽样样本进行检测得到。
3.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述粒径范围差异为抽样样本之间粒径范围的交并比。
4.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述粒径特征差异值由平均粒径差异与粒径范围差异进行反向融合得到。
5.如权利要求1所述的应用于硅质渣合成的粒径测量方法，其特征在于，所述同类粒径组的划分方法为：将粒径特征差异值作为对应抽样样本之间的聚类距离，对所有抽样样本进行聚类得到若干个聚类簇，分别记为同类...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖万成，胡德胜，刘峻莉，杨栩，
申请(专利权)人：大连源丰智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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