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本发明涉及粒径测量技术领域，具体涉及应用于硅质渣合成的粒径测量方法，该方法包括：从同一批次破碎后的硅质渣中进行若干次抽样，检测每份抽样样本的超声波功率数据、平均粒径、粒径范围以及分布曲线；基于抽样样本之间的平均粒径差异以及粒径范围差异，将所...
该专利属于大连源丰智能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过大连源丰智能科技有限公司授权不得商用。

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