一种光学元件的连续激光温升评价测试系统技术方案

本发明专利技术公开了一种光学元件的连续激光温升评价测试系统，包括激光发生装置、z轴导轨、固定组件、运动机构、制冷组件、透射光路收光装置、反射光路吸光装置、温度检测装置；运动机构设置在z轴导轨上，制冷组件设置在运动机构上，固定组件设置在制冷组件上；透射光路吸光装置用于吸收经过待测光学元件的透射光线；反射光路吸光装置用于吸收经过待测光学元件的反射光线；激光发生装置、z轴导轨和透射光路收光装置依次沿x轴设置，激光发生装置出射激光，激光照射到待测光学元件上，之后被透射光路收光装置或反射光路吸光装置收光；温度检测装置用于实时检测待测光学元件的温度。本发明专利技术测试种类更多，且可兼容多种光学元件的连续激光温升测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学元件检测，更具体地，涉及一种光学元件的连续激光温升评价测试系统。

技术介绍

1、随着智能智造技术发展，如大型船舶的制造，需要使用到超高功率工业光纤激光进行金属切割和焊接，这对超高功率激光器及激光应用设备里面的光学器件有着更高的质量要求。

2、高功率光纤激光器及其相应激光切割/焊接设备，在实际工作中激光功率是非常高的，这些高功率的激光光线会经过各种类型的光学元件，如准直透镜、聚焦透镜、保护镜、石英端帽、反射片等，激光跟这些光学元件接触时，由于光学元件加工的粗糙度差异以及镀膜/基材中肉眼看不到的缺陷(气泡、杂质)会强烈的吸收激光，产生热效应，致使光学元件的温度上升，折射率发生变化，会对光束的光路有很大影响(如焦点位置偏移)。提出合理的评价方法，以便评估光学元件受激光辐射后的热效应温度是否满足实际用场景，至关重要；而市面上没有关于光学元件热效应测试相关的仪器或平台，也无相关的测试方案。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服现有技术存在的上述缺陷，提供一种光学元件的连续激光温升评价本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，包括激光发生装置、z轴导轨、固定组件、运动机构、制冷组件、透射光路收光装置、反射光路吸光装置、温度检测装置；

2.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述制冷组件为制冷片。

3.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述运动机构包括升降组件、x轴运动组件和z轴运动组件。

4.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述固定组件包括设置在所述制冷组件上的支撑基座、设置在所述支撑基座上的导向杆、设置在所述导向杆上...

【技术特征摘要】

1.一种光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，包括激光发生装置、z轴导轨、固定组件、运动机构、制冷组件、透射光路收光装置、反射光路吸光装置、温度检测装置；

2.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述制冷组件为制冷片。

3.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述运动机构包括升降组件、x轴运动组件和z轴运动组件。

4.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述固定组件包括设置在所述制冷组件上的支撑基座、设置在所述支撑基座上的导向杆、设置在所述导向杆上并可沿所述导向杆运动的可调节压紧组件，所述待测光学元件设置在所述可调节压紧组件与所述支撑基座之间。

5.根据权利要求1所述的光学元件的连续激光温升评价测试系统，其特征在于，所述透射光路吸光装置和所述反射光路吸光装置分别包括老化箱体、位于所述老化箱体内部的水冷流动腔、以及分别连通所述水冷流动腔的进水管和出水管。

6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋峰，陈相和，李昌席，王迪，
申请(专利权)人：苏州创鑫激光科技有限公司，
类型：发明
国别省市：