【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于超声无损检测领域，具体涉及一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法及相关装置。
技术介绍
1、在现代工业领域，技术的不断进步和发展使得无损检测技术越发成熟和广泛应用，其中超声探伤技术因其灵敏度高、穿透力强、工作效率高、成本较低、无辐射污染等优点，已经在工业领域的无损检测中扮演着不可替代的角色。目前人们一般采用超声方法对工件缺陷进行评估，其中超声波c扫描是一种精度较高的定量定位检测方法，可实现工件内部缺陷的检测，其较传统超声探伤在检测灵敏度、分辨率和自动化程度方面均大幅提高。
2、在实际的超声c扫描过程中，由于平台表面存在平面度公差，并且超声探头和其夹具在装配过程中也会产生误差，从而导致超声探头和工件的检测面之间可能产生较大垂直度公差。因此，探头在不同位置处与检测面之间的距离存在差异，所采集到的回波波形之间会产生提前或滞后，导致相位误差的产生。当接收的回波信号产生相位误差时，设置的采样闸门无法完整捕获到扫描平面上所有采集点的缺陷回波信号，影响缺陷的正常检测。
3、当前，回波波形相位误差可通过优化估...
【技术保护点】
1.一种面对超声C扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，包括如下过程：
2.根据权利要求1所述的一种面对超声C扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，所述特征向量为：
3.根据权利要求1所述的一种面对超声C扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，以所有采样点的特征向量为数据集，根据采样点回波波形的形貌对采样点的回波波形进行分类，得到回波波形分类结果的过程包括：
4.根据权利要求3所述的一种面对超声C扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，使用K均值聚类算法，将采样点回波波形按照形貌形进行分类时：
5.根...
【技术特征摘要】
1.一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，包括如下过程：
2.根据权利要求1所述的一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，所述特征向量为：
3.根据权利要求1所述的一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，以所有采样点的特征向量为数据集，根据采样点回波波形的形貌对采样点的回波波形进行分类，得到回波波形分类结果的过程包括：
4.根据权利要求3所述的一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，使用k均值聚类算法，将采样点回波波形按照形貌形进行分类时：
5.根据权利要求1所述的一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，在超声c扫描平面内生成采集框时，假设在利用超声c扫描的试件的微小面积内波形之间不存在相位误差，并采用随机的方式生成采集框。
6.根据权利要求5所述的一种面对超声c扫描检测的回波相位误差校正方法，其特征在于，在超声c扫描平面内随机生成采集框时，若以初始边长生成的采集...
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