测试机码型数据加载装置、方法和测试机制造方法及图纸

本申请涉及一种测试机码型数据加载装置、方法和测试机，参数解析模块接收上位机下发的码型数据包，对码型数据包进行解析，得到码型数据和对应的加载参数。若码型数据为具有分组特性的码型数据，则上位机对码型数据进行分组后与对应的加载参数组包生成码型数据包。格式转换模块接收参数解析模块输出的码型数据和加载参数，以及在码型数据为具有分组特性的码型数据时，根据加载参数对码型数据进行格式转换，生成多个转换后的码型数据发送至存储装置中对应位置进行存储。针对具有分组特性的码型数据，上位机可以不需要重复发送，而是通过格式转换模块进行格式转换生成多个转换后的码型数据，可以减小上位机所需下发的数据量，提高数据加载效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及半导体测试，特别是涉及一种测试机码型数据加载装置、方法和测试机。

技术介绍

1、半导体自动化测试，指的是利用自动测试设备(automatic test equipment，ate)对待测试器件(device under test，dut)的各项参数指标进行检测，剔除残次品以控制半导体器件的出厂品质。测试机中关于多站点(site)设备码型数据(pattern)加载方式，是由上位机将各站点设备每一项功能测试所需的码型数据都一起下发至各站点设备保存，造成通信链路上大数据量的重复传输，降低了数据加载效率。

技术实现思路

1、基于此，有必要针对上述问题，提供一种可提高数据加载效率的测试机码型数据加载装置、方法和测试机。

2、本申请第一方面提供一种测试机码型数据加载装置，包括：

3、参数解析模块，用于接收上位机下发的码型数据包，对所述码型数据包进行解析，得到码型数据和对应的加载参数；其中，若所述码型数据为具有分组特性的码型数据，则上位机对所述码型数据进行分组后与对应的加载参数组包生成码型本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种测试机码型数据加载装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述加载参数包括存储地址、数据长度和码型属性参数，其中，所述码型属性参数表征码型数据是否为具有分组特性的码型数据。

3.根据权利要求2所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述参数解析模块解析得到的码型数据包括具有分组特性的第一码型数据；

4.根据权利要求3所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述格式转换模块包括第一数据接收接口和数据拼接单元，所述第一数据接收接口连接所述参数解析模块和所述数据拼接单元；所述第一数据接收接口接收所述第...

【技术特征摘要】

1.一种测试机码型数据加载装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述加载参数包括存储地址、数据长度和码型属性参数，其中，所述码型属性参数表征码型数据是否为具有分组特性的码型数据。

3.根据权利要求2所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述参数解析模块解析得到的码型数据包括具有分组特性的第一码型数据；

4.根据权利要求3所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述格式转换模块包括第一数据接收接口和数据拼接单元，所述第一数据接收接口连接所述参数解析模块和所述数据拼接单元；所述第一数据接收接口接收所述第一码型数据以及对应的存储地址、数据长度和重复值，将所述第一码型数据发送至所述数据拼接单元，所述数据拼接单元对所述第一码型数据进行拼接处理，输出与所述存储装置的数据格式匹配的第一拼接数据。

5.根据权利要求4所述的测试机码型数据加载装置，其特征在于，所述格式转换模块还包括数据缓存器、参数缓存器、寄存器和转换控制单元，所述第一数据接收接口还连接所述参数缓存器，所述数据拼接单元连接所述数据缓存器，所述数据缓存器连接所述寄存器，所述转换控制单元连接所述数据缓存...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐远泽，赵飞，马鹤鸣，文浩，陈化良，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：