一种适用于宽温度范围的630nm硅基PIN探测器校准方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种适用于宽温度范围的630nm硅基PIN探测器校准方法和系统，涉及探测器校准技术领域，该系统通过目标信号采集单元获取光信号并转换为数字信号，附加时间戳，然后数据处理模块对原始光电信号序列进行波形分析，计算第一光信号强度差值G<subgt;cz</subgt;并生成预校准命令。进一步信号分析模块通过傅里叶变换转换至频率域，识别波长峰值系数K<subgt;peak</subgt;，触发第一校准机制命令。环境监测模块实时采集探测器周围环境参数，用于校准调整系数Xzx，确保第二校准光信号波长值达到预期。若需要，第二校准调整模块利用光学滤波器和背景光遮挡系数进一步校准。第三校准调整模块基于导波效率系数Gzd对光信号波长进行最终调整，提高光信号检测的精度和可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及探测器校准，具体为一种适用于宽温度范围的630nm硅基pin探测器校准方法和系统。

技术介绍

1、630nm硅基pin探测器是一种基于硅材料的光电探测器，工作波长为630nm。pin探测器是一种半导体探测器，由p型、i型(本征)和n型三个层次组成。其工作原理是，当光子进入探测器时，在i型层中产生电子－空穴对，在外加电场的作用下，这些电子和空穴被收集到p型和n型区域，从而产生电流信号。宽温度范围意味着该探测器能够在较大的温度范围内，例如从-40℃到85℃，也能工作。

2、在实际应用中，630nm硅基pin探测器通常与导波器一起工作，以增强光信号的传输效率和检测精度。然而，在探测器使用过程中，探测器和导波器不仅要应对目标光信号，还需要处理多种复杂的环境干扰和条件变化，这对探测器的性能提出了更高的要求。

3、首先，背景光干扰是一个不可忽视的问题。环境中的自然光、室内照明以及其他电子设备发出的杂散光，都会混入探测器接收到的光信号中。这些背景光干扰会导致信号噪声增加，从而影响探测器的检测精度和可靠性。如果不加以有效的校准和补偿，本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种适用于宽温度范围的630nm硅基PIN探测器校准方法，其特征在于：包括以下步骤：

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4.根据权利要求1所述的一种适用于宽温度范围的630nm硅基PIN探测器校准方法，其特征在于：所述S2包括：

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【技术特征摘要】

1.一种适用于宽温度范围的630nm硅基pin探测器校准方法，其特征在于：包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种适用于宽温度范围的630nm硅基pin探测器校准方法，其特征在于：所述s1包括：

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4.根据权利要求1所述的一种适用于宽温度范围的630nm硅基pin探测器校准方法，其特征在于：所述s2包括：

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【专利技术属性】
技术研发人员：罗蔚，杨帆，邱开强，杨军，简茂余，范忠孝，
申请(专利权)人：重庆鹰谷光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：