【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及测点采样,特别涉及一种工件测点采样离线规划方法及系统。
技术介绍
1、现代制造业中对于零件加工质量的有效评估,是进行产品后续再制造以及装配可靠性的有力保证。针对于大型复杂曲面检测,传统接触式方法(如三坐标检测设备)由于受曲率急变等几何特征限制导致采样效率难以提升等问题,所以目前工程应用多采用“点激光位移传感器+二维精密移动机构”来构建非接触式检测方法。这其中,测点采样规划的合理性是满足精度和效率协同提升的关键所在,采样点过于密集势必耗费较多的数据预处理时间,太少则无法满足高精度检测新需求。
2、现有技术当中,常用采样规划方法有:等间隔、等弧长、等弦高、以及基于单一形状特征(曲率或法矢分布)自适应等方法。其中,前三者实现过程仅根据预先设定的阈值参数,而未考虑零件几何形状特征,因而大多应用于待测工件形貌结构较为简单的场景。而基于形状特征自适应调整采样疏密,因合理地利用了待测形面拓扑结构以调整采样点数目及分布,则广泛地应用于自由曲面采样。然而,针对复杂多变的曲面类零件,单一特征约束往往不太适用。
【技术保护点】
1.一种工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述离散化零件模型得到若干轮廓截交线的步骤包括:
3.根据权利要求2所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述轮廓截交线的表达式为:
4.根据权利要求1所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述以得到截交线数学模型的步骤之后,所述方法包括:
5.根据权利要求1所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述基于所述截交线数学模型提取同一轮廓截交线中相邻特征点的弧长,并判断所述弧长与预设弧
...【技术特征摘要】
1.一种工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述离散化零件模型得到若干轮廓截交线的步骤包括:
3.根据权利要求2所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述轮廓截交线的表达式为:
4.根据权利要求1所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述以得到截交线数学模型的步骤之后,所述方法包括:
5.根据权利要求1所述的工件测点采样离线规划方法,其特征在于,所述基于所述截交线数学模型提取同一轮廓截交线中...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈杰,刘伟成,李昕,吴斌斌,周秋英,乐洪甜,郭阳阳,李静波,张智怡,
申请(专利权)人:江西省检验检测认证总院特种设备检验检测研究院,
类型:发明
国别省市:
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