基于FPGA平台的DDR控制器测试系统及方法技术方案

本发明专利技术提供一种基于FPGA平台的DDR控制器测试系统及方法，其中的系统包括：上位机、设置在FPGA平台上的待验证的DDR控制器、DDR PHY和DDR颗粒；其中，所述上位机通过预设接口与嵌入式处理器连接，所述嵌入式处理器与所述DDR控制器连接，所述DDR PHY与所述DDR控制器连接，所述DDR颗粒与所述DDR PHY连接；所述上位机用于将配置参数通过所述预设接口发送至所述嵌入式处理器，所述嵌入式处理器根据所述配置参数生成相关的测试参数并发送至所述DDR控制器和所述DDR PHY；所述DDR控制器、所述DDR PHY和所述DDR颗粒根据所述测试参数执行相关测试操作。利用上述发明专利技术能够完成对DDR控制器的独立测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片检测，更为具体地，涉及一种基于fpga平台的ddr控制器测试系统及方法。

技术介绍

1、目前，ddr sdram（double data rate，双倍速率同步动态随机存储器）主要是指采用ddr 技术的sdram，其内存接口通常分为内存控制逻辑（mc，memory controller）和物理层接口（phy，physical interface）两部分，其中的ddr phy是用于控制和管理ddr存储器接口的物理层接口，连接ddr颗粒和ddr控制器。

2、但是，当前的fpga（field programmable gate array，现场可编程逻辑门阵列）平台仅能提供ddr phy和ddr控制器的融合版本，不能有效拆分这二个功能模块，因此，如果需要单独验证自研的ddr控制器，需要通过桥接的方式，转发给fpga ddr控制器，再通过fpgaddr控制器来间接控制phy的数据通信。可知，该方式会导致对ddr控制器功能验证具有一定的局限性，验证也不充分。

3、因此，目前亟需一种fpga平台验证系统，能够有效的完成对ddr本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于FPGA平台的DDR控制器测试系统，其特征在于，包括：上位机、设置在FPGA平台上的待验证的DDR控制器、DDR PHY和DDR颗粒；其中，

2.根据权利要求1所述的基于FPGA平台的DDR控制器测试系统，其特征在于，所述预设接口包括相互连接的PCIE接口和AXI桥；其中，

3.根据权利要求2所述的基于FPGA平台的DDR控制器测试系统，其特征在于，还包括与AXI桥连接的AXI转APB接口，所述AXI转APB接口分别与所述DDR控制器和所述DDR PHY连接；其中，

4.根据权利要求3所述的基于FPGA平台的DDR控制器测试系统，其特征在于...

【技术特征摘要】

1.一种基于fpga平台的ddr控制器测试系统，其特征在于，包括：上位机、设置在fpga平台上的待验证的ddr控制器、ddr phy和ddr颗粒；其中，

2.根据权利要求1所述的基于fpga平台的ddr控制器测试系统，其特征在于，所述预设接口包括相互连接的pcie接口和axi桥；其中，

3.根据权利要求2所述的基于fpga平台的ddr控制器测试系统，其特征在于，还包括与axi桥连接的axi转apb接口，所述axi转apb接口分别与所述ddr控制器和所述ddr phy连接；其中，

4.根据权利要求3所述的基于fpga平台的ddr控制器测试系统，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的基于fpga平台的ddr控制器测试系统，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的基于fpga平台的dd...

【专利技术属性】
技术研发人员：高胜，赖俊生，
申请(专利权)人：皇虎测试科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：