一种IC芯片测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种IC芯片测试装置，包括测试台，所述测试台顶部中间位置开设有矩形孔，所述测试台中间处开设有安装孔，所述安装孔内侧底部固定连接有微型电动推杆，所述微型电动推杆顶部固定连接有横板，所述横板顶部开设有T型滑槽，所述T型滑槽中对称滑动连接有T型板，两个所述T型板顶部均贯穿矩形孔，两个所述T型板顶部相靠近的一侧均固定连接有压块，两个所述T型板位于安装孔内的两侧均固定连接有滑杆。本技术,实现了工作人员在对IC芯片进行测试的时候，无需用力按压IC芯片，实现针脚的固定，同时测试后也无需用力拨出IC芯片，IC芯片自动弹出来，提高了测试效率，同时降低了用户的手指劳动强度的技术效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及ic芯片生产，尤其涉及一种ic芯片测试装置。

技术介绍

1、集成电路芯片是现代电子技术的基础，广泛应用于各种电子产品和设备，它是由大量的晶体管、电阻、电容等元件组成的高度集成化的电子器件，封装测试则是将晶圆切割成单个芯片并进行功能测试，ic芯片的应用领域十分广泛，包括计算机、通信、医疗、航空航天等。

2、ic芯片的出场前均需要经过ic芯片测试装置的测试，保证其质量，在现有技术中，在对有针脚的ic芯片进行测试的时候，用户都需要将有针脚的ic芯片对准测试装置的针脚孔安装好，才能进行测试，测试后，还需要将有针脚的ic芯片从针脚孔中拔出，才能对下一个有针脚的ic芯片进行测试，这使得检测过程较为缓慢，且长时间的工作，使得用户手指酸疼，同时由于用户失误，可能导致针脚变形的可能，为此设计出一种ic芯片测试装置。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种ic芯片测试装置。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：

3、一种ic芯片测试装置本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种IC芯片测试装置，包括测试台(1)，其特征在于，所述测试台(1)顶部中间位置开设有矩形孔，所述测试台(1)中间处开设有安装孔(101)，所述安装孔(101)内侧底部固定连接有微型电动推杆(5)，所述微型电动推杆(5)顶部固定连接有横板(6)，所述横板(6)顶部开设有T型滑槽(601)，所述T型滑槽(601)中对称滑动连接有T型板(7)，两个所述T型板(7)顶部均贯穿矩形孔，两个所述T型板(7)顶部相靠近的一侧均固定连接有压块(701)，两个所述T型板(7)位于安装孔(101)内的两侧均固定连接有滑杆(9)，所述安装孔(101)顶部两侧两端均固定连接有侧板(10)，每个所述侧板(1...

【技术特征摘要】

1.一种ic芯片测试装置，包括测试台(1)，其特征在于，所述测试台(1)顶部中间位置开设有矩形孔，所述测试台(1)中间处开设有安装孔(101)，所述安装孔(101)内侧底部固定连接有微型电动推杆(5)，所述微型电动推杆(5)顶部固定连接有横板(6)，所述横板(6)顶部开设有t型滑槽(601)，所述t型滑槽(601)中对称滑动连接有t型板(7)，两个所述t型板(7)顶部均贯穿矩形孔，两个所述t型板(7)顶部相靠近的一侧均固定连接有压块(701)，两个所述t型板(7)位于安装孔(101)内的两侧均固定连接有滑杆(9)，所述安装孔(101)顶部两侧两端均固定连接有侧板(10)，每个所述侧板(10)上均开设有异形孔(11)，每个所述滑杆(9)均滑动连接在相靠近的异形孔(11)中。

2.根据权利要求1所述的一种ic芯片测试装置，其特征在于，所述异形孔(11)包括有斜孔和竖孔，且斜孔底部与竖孔顶部相连接。

3.根据权利要求1所述的一种ic芯片测试装置，其特征在于，所述矩形孔中滑动连接有...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘乃松，黄文治，李孝文，罗根生，
申请(专利权)人：深圳市海创超能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：