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本技术公开了一种IC芯片测试装置，包括测试台，所述测试台顶部中间位置开设有矩形孔，所述测试台中间处开设有安装孔，所述安装孔内侧底部固定连接有微型电动推杆，所述微型电动推杆顶部固定连接有横板，所述横板顶部开设有T型滑槽，所述T型滑槽中对称滑动...
该专利属于深圳市海创超能科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市海创超能科技有限公司授权不得商用。

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