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用于处理显微图像的小样本学习制造技术

技术编号:43107060 阅读:33 留言:0更新日期:2024-10-26 09:48
用于处理显微图像的小样本学习。本文中公开了科学仪器支持系统以及相关的方法、计算设备和计算机可读介质。例如,在一些实施方案中,一种科学仪器支持装置可以包括:第一逻辑,该第一逻辑用于从带电粒子显微镜接收样品的显微图像;第二逻辑,该第二逻辑用于通过使用多个先前处理的显微图像训练的通用机器学习模型处理该显微图像来生成第一经处理图像;第三逻辑,该第三逻辑用于利用相关显微图像重新训练该通用机器学习模型,其中该相关显微图像包括与该样品相关的对象的标签,并且该相关显微图像不包括在该多个先前处理的显微图像中;和第四逻辑,该第四逻辑用于通过借由所重新训练的通用机器学习模型处理该显微图像来生成与该第一经处理图像不同的第二经处理图像。

【技术实现步骤摘要】


技术介绍

1、带电粒子显微镜学具有以非常高的分辨率生成样品的图像的潜力。这些图像是通常需要进行大量处理以提取有价值信息的大数据集。


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种科学仪器支持装置,所述科学仪器支持装置包括:

2.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,第五逻辑,所述第五逻辑用于提供所述第二经处理图像以供显示或进一步处理。

3.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述第三逻辑被进一步配置为确定或接收所述第一经处理图像不令人满意的指示,并且其中所述通用机器学习模型的所述重新训练至少部分地响应于所述第一经处理图像不令人满意的所述指示而执行。

4.根据权利要求3所述的科学仪器支持装置,其中所述第三逻辑被配置为基于雅卡尔指数确定所述第一经处理图像不令人满意。

5.根据权利要求1所述的科学仪器支持装...

【技术特征摘要】

1.一种科学仪器支持装置,所述科学仪器支持装置包括:

2.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,第五逻辑,所述第五逻辑用于提供所述第二经处理图像以供显示或进一步处理。

3.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述第三逻辑被进一步配置为确定或接收所述第一经处理图像不令人满意的指示,并且其中所述通用机器学习模型的所述重新训练至少部分地响应于所述第一经处理图像不令人满意的所述指示而执行。

4.根据权利要求3所述的科学仪器支持装置,其中所述第三逻辑被配置为基于雅卡尔指数确定所述第一经处理图像不令人满意。

5.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述第三逻辑被进一步配置为基于量化所述第一经处理图像与所述显微图像的预期处理结果的相似性的量度来选择所述相关显微图像。

6.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述标签包括由用户提供的校正或注释。

7.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述第三逻辑被进一步配置为基于由用户经由接口提供的输入来选择所述相关显微图像。

8.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述显微图像被添加到所述先前处理的显微图像以形成更新显微图像集,其中由第二科学仪器支持装置使用所述更新显微图像集来训练第二通用机器学习模型,并且其中所述第二科学仪器支持装置采用所述第二通用机器学习模型来生成经处理图像。

9.根据权利要求1所述的科学仪器支持装置,其中所述通用机器学习模型通过使用利用先前注释的数据的数据增强的监督学习来训练。

10.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:J·弗拉纳根A·诺维科夫
申请(专利权)人:FEI公司
类型:发明
国别省市:

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