【技术实现步骤摘要】
本技术涉及导电薄膜生产，具体涉及一种导电金属薄膜方阻检测设备。
技术介绍
1、导电金属薄膜是一类具有多种良好性能的材料，现已广泛应用于电池中作为正极集流体或者负极集流体。导电金属薄膜制备后其厚度是重要考核指标，需要进行检测，而导电金属薄膜这样的薄膜状导电材料，衡量它们厚度的最好方法就是测试它们的方阻。
2、现有的导电金属薄膜在进行方阻检测时，需要借助方阻检测仪进行，通常需要将导电金属薄膜样品布置在平台上放平整，然后第一名检测人员手持方阻检测仪使方阻检测仪的探针与导电金属薄膜接触完成一个点位的检测，第二名检测人员则进行相应记录，然后第一名检测人员继续手持方阻检测仪使方阻检测仪的探针与导电金属薄膜接触完成下一个点位的检测；如此往复，不仅效率低，而且劳动强度大、检测成本高。
技术实现思路
1、为了克服现有技术的不足，本技术提供一种导电金属薄膜方阻检测设备，通过检测辊上多个探针的设置，能够实现多点位的检测，提高了检测效率，并降低了劳动强度。
2、本技术解决其技术问题所采用的
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1.一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于：包括机架、牵引辊、压辊和检测组件，所述牵引辊用于支撑传输导电金属薄膜，所述压辊用于将导电金属薄膜压紧于所述牵引辊上，所述检测组件包括支架、检测辊及连接于检测辊上的多个探针，所述探针与所述牵引辊上的导电金属薄膜抵持，用于检测导电金属薄膜的方阻，多个所述探针间隔设置于所述检测辊的周壁。
2.根据权利要求1所述的一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于：所述检测组件包括两组，两组检测组件的探针分别抵持于电金属薄膜的两个表面，用于检测电金属薄膜的两个表面的方阻。
3.根据权利要求2所述的一种导电金属薄膜方阻...
【技术特征摘要】
1.一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于：包括机架、牵引辊、压辊和检测组件，所述牵引辊用于支撑传输导电金属薄膜，所述压辊用于将导电金属薄膜压紧于所述牵引辊上，所述检测组件包括支架、检测辊及连接于检测辊上的多个探针，所述探针与所述牵引辊上的导电金属薄膜抵持，用于检测导电金属薄膜的方阻，多个所述探针间隔设置于所述检测辊的周壁。
2.根据权利要求1所述的一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于：所述检测组件包括两组，两组检测组件的探针分别抵持于电金属薄膜的两个表面，用于检测电金属薄膜的两个表面的方阻。
3.根据权利要求2所述的一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于：多个所述探针沿所述检测辊的周壁螺旋设置。
4.根据权利要求3所述的一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征在于：所述检测辊转动连接于所述支架上，且所述检测辊转动时用于带动多个所述探针依次与导电金属薄膜的多个检测点抵持。
5.根据权利要求4所述的一种导电金属薄膜方阻检测设备，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：罗能铁，
申请(专利权)人：深圳市镭煜科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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