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本技术公开了一种导电金属薄膜方阻检测设备，包括机架、牵引辊、压辊和检测组件，所述牵引辊用于支撑传输导电金属薄膜，所述压辊用于将导电金属薄膜压紧于所述牵引辊上，所述检测组件包括支架、检测辊及连接于检测辊上的多个探针，所述探针与所述牵引辊上的导...
该专利属于深圳市镭煜科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市镭煜科技有限公司授权不得商用。

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