【技术实现步骤摘要】
本技术涉及微波组件，具体涉及一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构。
技术介绍
1、恒温老化试验是验证微波组件可靠性的不可缺少的一部分，其主要原理通过恒温热台控制组件温度，使其达到正常工作温度，再给微波组件加电并通过控制信号打开微波组件通道，按照实验需求使组件在恒温情况下持续工作，用来保障微波组件的可靠性。
2、在现有的老化设备中，大多数都是按照特定的产品来对应设计的老化试验平台，这种设计对于一种产品来说其针对性很强，但是在更换一种产品过后这种试验平台的兼容性就不是很好甚至可以说是没有兼容性，这样在我们出现新产品过后又需要对应新产品来重新设计一种新的老化平台，不仅费时费力而且成本很高；又或者是试验平台中没有可控热台，即只能在常温下对产品进行老化，这种在很多情况下不满足产品的试验要求，实用性不是很高。因此，亟需设计一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构来解决上述问题。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构，以解决现有技术中的
【技术保护点】
1.一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构，包括热台(1)，其特征在于，所述热台(1)顶部一侧的外壁上通过螺栓固定安装有连接支架(2)，且连接支架(2)的顶端转动设置有扣压板(5)，所述扣压板(5)顶部的外壁上开有螺纹孔(13)，且螺纹孔(13)的内部螺纹插接有压紧螺杆(4)，所述扣压板(5)的一端设置有锁扣(6)，所述热台(1)顶部一侧的外壁上设置有与锁扣(6)相配合的锁扣支架(11)，所述扣压板(5)的下方设置有固定安装在压紧螺杆(4)底端的工装压块(7)，所述热台(1)顶部的外壁上开有安装槽，且安装槽的底部内壁上设置有温度传感器(8)，所述安装槽的内部卡接...
【技术特征摘要】
1.一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构，包括热台(1)，其特征在于，所述热台(1)顶部一侧的外壁上通过螺栓固定安装有连接支架(2)，且连接支架(2)的顶端转动设置有扣压板(5)，所述扣压板(5)顶部的外壁上开有螺纹孔(13)，且螺纹孔(13)的内部螺纹插接有压紧螺杆(4)，所述扣压板(5)的一端设置有锁扣(6)，所述热台(1)顶部一侧的外壁上设置有与锁扣(6)相配合的锁扣支架(11)，所述扣压板(5)的下方设置有固定安装在压紧螺杆(4)底端的工装压块(7)，所述热台(1)顶部的外壁上开有安装槽，且安装槽的底部内壁上设置有温度传感器(8)，所述安装槽的内部卡接有工装底座(9)。
2.根据权利要求1所述的一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构，其特征在于，所述连接支架(2)的顶端设置有铰链(3)，且扣压板(5)通过铰链(3)转动安装在连接支架(2)的顶部。
3.根据权利要求1所述的一种基于星载微波组件恒温老化试验的可复用结构，...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜小辉，曹安，虞波，张锋，
申请(专利权)人：苏州立臻微波技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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