用于分析引燃现象的系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及用于分析在装载介质或流过介质的贮物器(2)中发生的引燃现象(1)的系统和方法，其中，通过这种系统或方法，可以改善与特定介质有关的引燃现象(1)的检测和风险评估。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本专利技术涉及用于分析在装载介质或流过介质的贮物器中发生的引燃现象(zündwirksamen erscheinung)的系统和方法。本专利技术提出的系统和方法自身利用了对吸收现象的分析，该吸收现象可能由于引燃现象的辐射发射而发生。

技术介绍

1、装载介质或流过介质的贮物器广泛用于各种工业领域，例如介质的运输、存储、中间存储或处理。

2、“介质”可以包括一种或多种成分。在当前情况下，“介质”可以被理解为特别是指固体、固体颗粒、灰尘颗粒等。如果此类物质或颗粒发生移动，尤其在与正常压力相比增加或减少的压力值下发生移动，则在存在引燃现象时，危险出现并且因而火焰形成、起火或爆炸(例如粉尘爆炸)的危险也会增加。这同样适用于(例如在压力下)介质在贮物器中的静态(非主动移动)存储。原因在于，即使在贮物器“装载”有介质时，(例如，由于压力波动、温度梯度或由于特定材料特性)在介质内也会产生(局部)移动，这可以与引燃现象相结合而导致点燃或爆炸灾害增加。也可能发生如下情况：余烬落入灰尘层或被运输到筒仓中。特别是在与大气中的氧气(气体或液体)结合时，可能会形成危险的物本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于分析在装载介质或流过介质的贮物器(2)中发生的引燃现象(1)的系统，其包括：

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一特征波长范围(λ1)和所述第二特征波长范围(λ2)均位于100nm至3500nm的波长范围内，其中，所述第一特征波长范围(λ1)和所述第二特征波长范围(λ2)优选地不重叠，并且优选地通过阈值波长(λG)或阈值波长范围分开。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其中，所述测量装置(101)包括第一获取构件(201)，所述第一获取构件被配置为在所述第一特征波长范围(λ1)内记录所述至少一个第一吸收值(A1)，并且其中，所述测量装置(101...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于分析在装载介质或流过介质的贮物器(2)中发生的引燃现象(1)的系统，其包括：

2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述第一特征波长范围(λ1)和所述第二特征波长范围(λ2)均位于100nm至3500nm的波长范围内，其中，所述第一特征波长范围(λ1)和所述第二特征波长范围(λ2)优选地不重叠，并且优选地通过阈值波长(λg)或阈值波长范围分开。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其中，所述测量装置(101)包括第一获取构件(201)，所述第一获取构件被配置为在所述第一特征波长范围(λ1)内记录所述至少一个第一吸收值(a1)，并且其中，所述测量装置(101)包括第二获取构件(202)，所述第二获取构件被配置为在所述第二特征波长范围(λ2)内记录所述至少一个第二吸收值(a2)。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其中，所述测量装置(101)包括单个获取构件，所述获取构件被配置为在所述第一特征波长范围(λ1)内记录所述至少一个第一吸收值(a1)并在所述第二特征波长范围(λ2)内记录所述至少一个第二吸收值(a2)。

5.根据权利要求4所述的系统，其中，所述测量装置(101)包括滤光器设备，所述滤光器设备被配置为提供第一光谱滤光器状态和第二光谱滤光器状态，其中，在所述第一光谱滤光器状态下，通过所述获取构件在所述第一特征波长范围(λ1)内获取所述至少一个第一吸收值(a1)，并且其中，在所述第二光谱滤波器状态下，通过所述获取构件在所述第二特征波长范围(λ2)内获取所述至少一个第二吸收值(a2)。

6.根据权利要求4所述的系统，其中，所述测量装置(101)包括滤光器设备，特别是可更换滤光器，所述滤光器设备被配置为提供数量>2的光谱滤光器状态，其中，在相应的所述光谱滤光器状态下，通过所述获取构件在所述第一或第二特征波长范围(λ1、λ2)的子波长范围内获取所述至少一个第一吸收值(a1)或所述至少一个第二吸收值(a2)。

7.根据前述任一项权利要求所述的系统，其中，所述测量装置(101)是火花检测器(4)的一部分，并且其中，所述测量装置(101)提供被集成在所述火花检测器(4)中的吸收光谱仪。

8.根据前述任一项权利要求所述的系统，其中，所述观察空间(100)布置在所述贮物器(2)内，并且形...

【专利技术属性】
技术研发人员：迈克尔·梅尔霍恩，马里奥·哈斯，
申请(专利权)人：法格斯戈瑞肯戈瑞滕有限两合公司，
类型：发明
国别省市：