【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及超表面，具体涉及一种适用于衍射超表面的仿真分析方法及装置。
技术介绍
1、基于超表面的光学衍射神经网络通常在电子计算机上进行离线训练，得到设计参数后映射到光学器件上，将信息加载到光的特定维度上，实现一个或多个智能任务。在衍射神经网络中，超表面是光计算中进行光场调控的关键结构，结合了传统的几何、物理光学理论和前沿的纳米技术，是一种新型的光学结构，由具有亚波长尺度的二维或三维周期性微结构组成，能够精确调控传播光波的相位、振幅和偏振，推动了小型化、轻质化、集成化的光学器件发展。超表面的光学性能主要由结构单元的几何形状与尺寸、以及材料的介电常数决定。
2、然而，当前面向超表面网络的数值建模难以完美描述系统物理特性，超表面的物理尺寸、形貌和方位与设计有偏差，不同层的超表面之间在键合过程中存在装配误差。超表面加工质量与最终实现的功能有非常紧密的联系，在目前的微纳加工水平下，对于大规模、高深宽比超表面制备存在难以实现与设计值完美适配的技术壁垒。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专...
【技术保护点】
1.一种适用于衍射超表面的仿真分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述超表面单元结构模型进行参数扫描，确定超表面半径-相位对应分布点，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述半径-相位对应分布点进行超表面建模，对构建的第一超表面模型进行仿真计算，得到第一衍射图像，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述第一衍射图像和所述第二...
【技术特征摘要】
1.一种适用于衍射超表面的仿真分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述超表面单元结构模型进行参数扫描，确定超表面半径-相位对应分布点，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述半径-相位对应分布点进行超表面建模，对构建的第一超表面模型进行仿真计算，得到第一衍射图像，包括：
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