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本发明涉及超表面技术领域，具体涉及一种适用于衍射超表面的仿真分析方法及装置。本发明实施例提供的适用于衍射超表面的仿真分析方法，基于对超表面单元结构模型进行参数扫描得到的半径‑相位对应分布点进行超表面模型的构建，同时在建模时加入加工误差，通过...
该专利属于启元实验室所有，仅供学习研究参考，未经过启元实验室授权不得商用。

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