基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统技术方案

一种基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统，包括第一光频梳、第二光频梳、窄带增益模块、第一光电探测器、第二光电探测器、数据采集处理系统；所述第一光频梳和第二光频梳，用于探测；所述窄带增益模块，用于为光梳提供窄带增益，放大增益带宽所覆盖的梳齿的功率；部分梳齿被放大的光束经耦合器被分成等功率的两束光，数据采集处理系统，用于从射频电信号中提取噪声信息，作为信号的自校正，并反演样品信息。本发明专利技术以更低的成本实现普适性更强、光谱分辨率更高的计算自校正的DCS技术。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于精密光梳光谱领域，具体涉及一种基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统。

技术介绍

1、双光梳光谱(dcs)技术是一种新型的傅里叶变换光谱技术，具有宽光谱覆盖、高检测灵敏度、高分辨率、快速测量和高频率精度等优点，相比传统的傅里叶红外光谱技术(ftir)等技术展现出极具优势的综合性能。但是双光梳的互相干性和短期稳定性受温度漂移和泵浦电流波动等影响，使得重复频率和ceo频率发生波动，导致所测光谱分辨率下降并难以依靠长期的相干平均来提高snr。为了保证双光梳的高度互相干性，近十年来演进出了两种新的技术方案：

2、1)光参考方案。代表专利&文献：cn108613743a；doi:10.1364/oe.20.021932.

3、2)计算自校正方案。代表文献：doi:10.1109/jqe.2019.2918935.

4、其中光参考方案需要额外的cw-comb干涉仪和拍频电子系统来测量双光梳的相对抖动信息，且由于参考路径和测量路径的差异可能会引入额外的噪声，还因为涉及额外的参考通道需要做信号间的时序对齐；而计本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统，其特征在于，包括第一光频梳、第二光频梳、窄带增益模块、第一光电探测器、第二光电探测器、数据采集处理系统；

2.根据权利要求1所述的基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统，其特征在于，所述第一光频梳和第二光频梳作为主动探测光源，两者在空间上重合时干涉产生双光梳干涉信号；所述第一光频梳和第二光频梳是自由运转的，或者准自由运转的。

3.根据权利要求1所述的基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统，其特征在于，所述窄带增益模块为通过非线性效应为光梳脉冲提供窄带的增益。

4.根据权利要求3所述的基于窄带增...

【技术特征摘要】

1.一种基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统，其特征在于，包括第一光频梳、第二光频梳、窄带增益模块、第一光电探测器、第二光电探测器、数据采集处理系统；

2.根据权利要求1所述的基于窄带增益技术的计算自校正双光梳光谱系统，其特征在于，所述第一光频梳和第二光频梳作为主动探测光源，两者在空间上重合时干涉产生双光梳干涉信号；所述第一光频梳和第二光频梳是自由运转的，...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙玮，熊亚坦，陈迪俊，冯衍，李昊，陈卫标，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：