一种光模块光电测试仪制造技术

本技术公开了一种光模块光电测试仪，属于光模块光电测试仪领域，为了解决在对光模块进行测试完成后，误码测试仪表面的连接端口暴露在环境中，容易受到磕碰而导致连接端口损坏，严重时会影响与通讯线的插接，影响误码测试仪的正常使用的问题；本申请通过两组固定块和转把的配合能够将遮挡罩活动安装在外壳的上端，然后转动转把，能够使遮挡罩进行转动，此时连接接口能够被显露或者遮挡，显露时可以与通讯线接头进行插接使用，遮挡时，通过连接弹簧的弹性能够使限位卡块向上拉起，直至限位卡块插入限位槽内，此时可以对遮挡罩的位置进行限制，并且完成对连接接口的遮挡，即可实现对连接接口的保护的目的，以免误码测试仪结构损坏。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及光模块光电测试仪领域，更具体的说，涉及一种光模块光电测试仪。

技术介绍

1、光模块光电测试仪是用于对光模块进行性能测试和评估的仪器设备。光模块是指用于光通信或光传输系统中的光发射和接收器件，如光纤收发器、光收发模块等。

2、授权公告号为cn217849439u的文献中提出了一种低速调制ttl光模块误码测试仪，包括外壳、螺钉、后盖、卷轴和通讯线，所述卷轴两端分别套装有环形板，所述环形板外壁一侧安装有铰链，所述环形板通过铰链活动连接有压板，所述压板底端安装有固定座，所述固定座底端设置有一对卡槽，一对所述卡槽之间滑动连接有底架，所述底架的底端与通讯线的外壁一侧相贴合，所述卡槽的内部一侧连接有压缩弹簧，所述压缩弹簧的一端与底架的一侧连接，所述外壳一侧设置有若干信号接口。该技术结构合理，携带方便，实现了更广的适用性，然而在上述文献中，虽然可以利用误码测试仪对光模块完成误码测试，但是在对光模块进行测试完成后，误码测试仪表面的连接端口暴露在环境中，容易受到磕碰而导致连接端口损坏，严重时会影响与通讯线的插接，影响误码测试仪的正常使用。

...

【技术保护点】

1.一种光模块光电测试仪，包括误码测试仪结构(1)，其特征在于：所述误码测试仪结构(1)包括外壳(11)和设置在外壳(11)外壁上用于握持的把手(12)，外壳(11)的外侧设置有防护结构(13)，外壳(11)的上端还设置有连接接口(16)，通过连接接口(16)与通讯线接头连接，外壳(11)的上端还设置有遮挡结构(14)和限位结构(15)，通过遮挡结构(14)和限位结构(15)能够对连接接口(16)与环境进行阻隔；

2.根据权利要求1所述的一种光模块光电测试仪，其特征在于：所述固定块(141)和转把(142)均设置有两组，且两组所述的固定块(141)和转把(142)关于外壳(1...

【技术特征摘要】

1.一种光模块光电测试仪，包括误码测试仪结构(1)，其特征在于：所述误码测试仪结构(1)包括外壳(11)和设置在外壳(11)外壁上用于握持的把手(12)，外壳(11)的外侧设置有防护结构(13)，外壳(11)的上端还设置有连接接口(16)，通过连接接口(16)与通讯线接头连接，外壳(11)的上端还设置有遮挡结构(14)和限位结构(15)，通过遮挡结构(14)和限位结构(15)能够对连接接口(16)与环境进行阻隔；

2.根据权利要求1所述的一种光模块光电测试仪，其特征在于：所述固定块(141)和转把(142)均设置有两组，且两组所述的固定块(141)和转把(142)关于外壳(11)的中心线对称分布，两组转把(142)均能够带动遮挡罩(143)转动。

3.根据权利要求2所述的一种光模块光电测试仪，其特征在于：所述外壳(11)的前后两端均设置有防护柱(112)，外壳(11)的表面开设...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁天人，肖刚，余梦玲，曹香，贺丽娟，
申请(专利权)人：深圳跃升电子有限公司，
类型：新型
国别省市：