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本技术公开了一种光模块光电测试仪，属于光模块光电测试仪领域，为了解决在对光模块进行测试完成后，误码测试仪表面的连接端口暴露在环境中，容易受到磕碰而导致连接端口损坏，严重时会影响与通讯线的插接，影响误码测试仪的正常使用的问题；本申请通过两组固...
该专利属于深圳跃升电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳跃升电子有限公司授权不得商用。

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