【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶振生产设备领域，特别是涉及一种检测台上的晶振检测运输结构。
技术介绍
1、晶振在生产工艺中，需要对其性能进行检测，比如授权公告号为cn210523123u的专利中所示的技术方案。但是在现有的晶振检测设备中，难以实现晶振的翻面，通常是通过真空吸附结构直接吸取芯片进行运输，或者放置在特定的检测装置上进行检测，在该过程中不存在芯片的翻面，难以满足芯片的双面检测需求。因此需要一种能够实现晶振翻面的检测运输结构。
技术实现思路
1、本技术的目的是解决现有技术的不足，提供一种检测台上的晶振检测运输结构。
2、为了解决上述问题，本技术采用如下方案：
3、一种检测台上的晶振检测运输结构，包括用于运输晶振的转盘；还包括翻转台以及第一运输装置；其中翻转台与转盘靠近设置，第一运输装置设置于翻转台的附近；翻转台包括支撑结构、转动结构以及动力结构；转动结构转动设置于支撑结构上，动力结构与转动结构连接；转动结构上还设置有用于吸附晶振的吸附口。
4、进一步的，所述第一运输...
【技术保护点】
1.一种检测台上的晶振检测运输结构，包括用于运输晶振的转盘（1）；其特征在于，还包括翻转台（2）以及第一运输装置（3）；其中翻转台（2）与转盘（1）靠近设置，第一运输装置（3）设置于翻转台（2）的附近；翻转台（2）包括支撑结构（21）、转动结构（22）以及动力结构；转动结构（22）转动设置于支撑结构（21）上，动力结构与转动结构（22）连接；转动结构（22）上还设置有用于吸附晶振的吸附口。
2.根据权利要求1所述的一种检测台上的晶振检测运输结构，其特征在于，所述第一运输装置（3）包括用于水平传输的第一运输结构（31）、用于竖直运输的第二运输结构（32）以及...
【技术特征摘要】
1.一种检测台上的晶振检测运输结构，包括用于运输晶振的转盘（1）；其特征在于，还包括翻转台（2）以及第一运输装置（3）；其中翻转台（2）与转盘（1）靠近设置，第一运输装置（3）设置于翻转台（2）的附近；翻转台（2）包括支撑结构（21）、转动结构（22）以及动力结构；转动结构（22）转动设置于支撑结构（21）上，动力结构与转动结构（22）连接；转动结构（22）上还设置有用于吸附晶振的吸附口。
2.根据权利要求1所述的一种检测台上的晶振检测运输结构，其特征在于，所述第一运输装置（3）包括用于水平传输的第一运输结构（31）、用于竖直运输的第二运输结构（32）以及用于固定晶振的吸盘（33）；吸盘（33）设置于第二运输结构（32）的活动的部件上；第二运输结构（32）设置于第一运输结构（31）的活动的部件上。
3.根据权利要求2所述的一种检测台上的晶振检测运输结构，其特征在于，所述第一运输结构（31）包括第一滑块（311）、第一滑轨（312）以及第一动力源（313）；第一滑块（311）滑动设置于水平设置的第一滑轨（312）上；第一动力源（313）与第一滑块（311）传动连接；第二运输结构（32）设置于第一滑块（311）上。
4.根据权利要求3所述的一种检测台上的晶振检测运输结构，其特征在于，所述第二运输结构（32）包括第二滑块（321）、第二滑轨（322）以及第二动力源；第二滑轨（322）位于竖直方向固定设置于第一滑块（311）上；第二滑块（321）滑动设置于竖直设置的第二滑轨（3...
【专利技术属性】
技术研发人员：汪赛斌，金文波，
申请(专利权)人：浙江汇隆晶片技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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