磁头检查方法以及磁头检查装置制造方法及图纸

技术编号:42837350 阅读:23 留言:0更新日期:2024-09-27 17:10
提供促进磁头品质的均衡化的磁头检查方法以及磁头检查装置。磁头检查方法包括:根据表示检查完毕的磁头的特性的特性值、和作为目标的特性值的移动平均值的关系,在上下限的范围内可变地设定在检查中使用的特性值的阈值。

【技术实现步骤摘要】

本实施方式涉及磁头检查方法以及磁头检查装置


技术介绍

1、为了保证磁盘装置的性能而进行的磁头的试验标准应用了固定的阈值,但是存在出厂品质(质量)受因作为磁头材料的晶片的特性影响这一问题。


技术实现思路

1、本实施方式提供促进磁头品质的均衡化(平衡)的磁头检查方法以及磁头检查装置。

2、实施方式的磁头检查方法包括:根据表示检查完毕的磁头特性的特性值、与作为目标的特性值的移动平均值的关系,在上下限的范围内可变地设定在检查中使用的特性值的阈值。

【技术保护点】

1.一种磁头检查方法,表示检查磁盘装置的磁头的方法,包括:

2.根据权利要求1所述的磁头检查方法,

3.根据权利要求1或2所述的磁头检查方法,

4.根据权利要求1所述的磁头检查方法,

5.一种磁头检查装置,表示检查磁盘装置的磁头的装置,具备:

【技术特征摘要】

1.一种磁头检查方法,表示检查磁盘装置的磁头的方法,包括:

2.根据权利要求1所述的磁头检查方法,

3.根据权利要求1或2...

【专利技术属性】
技术研发人员:本田雅树
申请(专利权)人:株式会社东芝
类型:发明
国别省市:

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