【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及微波测量，涉及但不限定于一种基于scpi协议的微波成像及综合测量系统。
技术介绍
1、微波测量技术是电子信息产业中的关键技术环节，对于微波器件的研发和生产具有举足轻重的指导意义。其中微波近场扫描成像系统利用微波的非接触性和穿透性特点，实现对目标物体的高分辨率成像；雷达散射截面测量系统可以优化结构设计，提升目标的隐身性能或雷达探测性能；方向图测量系统有助于天线设计师精确掌握天线的性能特点。
2、上述测量系统虽然功能多样，但是每套不同的测量系统及其配套设施都价格昂贵、对场地和运行环境要求高，主要用于各大科研院所和大型企业。对于微波射频领域的工作者而言，他们通常需要依赖这些专业的测量系统来进行实验研究和产品开发。然而，由于资金限制和场地条件的不完善，许多小型企业和高校实验室难以承担高昂的购买和维护成本。同样，对于学校教学而言，让学生在实际操作中学习和掌握微波测量技术是非常重要的。但由于传统的测量系统价格昂贵且操作复杂，很多学校难以提供足够的实验设备和场地供学生使用。这导致学生在学习中往往只能停留在理论层面，缺乏实际操
【技术保护点】
1.一种基于SCPI协议的微波成像及综合测量系统，其特征在于，包括：电机驱动模块、无线模块、测量天线、二维扫场平台及转台和上位机软件，所述上位机软件与测量仪器之间通过SCPI协议进行测量数据的收发；其中：
2.根据权利要求1所述的微波成像及综合测量系统，其特征在于，所述二维扫场平台及转台包括近场测量滑台和远场测量转台；
3.根据权利要求2所述的微波成像及综合测量系统，其特征在于，所述电机驱动模块通过STM32芯片与所述上位机软件之间的串口通信，实现对所述近场测量滑台与所述远场测量转台中所用的步进电机的控制，以及对所述近场测量滑台中所用的限位开关
【技术特征摘要】
1.一种基于scpi协议的微波成像及综合测量系统，其特征在于，包括：电机驱动模块、无线模块、测量天线、二维扫场平台及转台和上位机软件，所述上位机软件与测量仪器之间通过scpi协议进行测量数据的收发；其中：
2.根据权利要求1所述的微波成像及综合测量系统，其特征在于，所述二维扫场平台及转台包括近场测量滑台和远场测量转台；
3.根据权利要求2所述的微波成像及综合测量系统，其特征在于，所述电机驱动模块通过stm32芯片与所述上位机软件之间的串口通信，实现对所述近场测量滑台与所述远场测量转台中所用的步进电机的控制，以及对所述近场测量滑台中所用的限位开关的控制。
4.根据权利要求2或3所述的微波成像及综合测量系统，其特征在于，
5.根据权利要求1至3任一项所述的微波成像...
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