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本发明公开了一种基于SCPI协议的微波成像及综合测量系统，包括：电机驱动模块、无线模块、测量天线、二维扫场平台及转台和上位机软件。本发明通过SCPI协议对测量仪器进行程控，通过所搭建的微波成像及综合测量平台实现一种近场微波扫描成像、雷达散射...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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