【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光电，尤其涉及一种高速光耦测试电路、电路板及装置。
技术介绍
1、高速光耦测试电路技术是一种用于评估和验证高速光耦性能的系统方法，通过研究光耦的工作原理、特性和测试标准，设计专用的硬件电路，应用动态测试，使用信号发生器提供测试信号，通过示波器观测高速光耦的输入和输出波形，分析其传输特性，如传输延迟时间、上升时间和下降时间等。该技术可自动加载测试条件，记录结果，并支持批量测试与计算机通信，以提高测试效率和准确性。测试项目包括响应速度、隔离程度和传输损耗等，确保光耦在不同工作条件下的性能符合标准。
2、然而目前高速光耦在生产和检验过程中存在检测器件结构复杂，导致检测困难的问题，同时测试平台设备的成本较高，需要专业的技术人员进行操作和维护，对专业知识和技能要求较高。因此，目前迫切需要一种能够快速、全面地检测高速光耦性能参数的智能化测试装置。
技术实现思路
1、本申请实施例的主要目的在于提出一种高速光耦测试电路、电路板及装置，以简化高速光耦测试电路，降低成本。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种高速光耦测试电路，所述光耦测试电路包括：测试主模块和可拆卸测试模块；其中，
3、所述测试主模块设置有脉冲信号输出端、非浮动电源输出端和连接引脚，所述脉冲信号输出端用于输出高压共模脉冲信号，所述非浮动电源输出端用于输出非浮动电源信号；
4、所述可拆卸测试模块设置有连接插口、高速光耦安装器件和输出测试接口，所述可拆卸测试模块通过所述连接插口与所
5、所述高压共模脉冲信号和所述高压共模脉冲信号经所述可拆卸测试模块输出到所述高速光耦。
6、进一步的，所述可拆卸测试模块包括：
7、第一逻辑输出电阻和第二逻辑输出电阻；
8、所述高速光耦安装器件分别连接所述第一逻辑输出电阻和所述第二逻辑输出电阻，通过所述第一逻辑输出电阻和所述第二逻辑输出电阻使得高速光耦安装器件安装高速光耦后能够进行逻辑输出。
9、进一步的，所述可拆卸测试模块还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一逻辑输出电阻连接，通过所述上拉电阻进行上拉所述高速光耦逻辑输出。
10、进一步的，所述可拆卸测试模块还包括：负载电容，所述负载电容与所述第二逻辑输出电阻连接。
11、进一步的，所述可拆卸测试模块还包括滤波模块，所述滤波模块与所述高速光耦安装器件连接，所述高压共模脉冲信号和所述高压共模脉冲信号在所述可拆卸测试模块上经滤波模块输出到所述高速光耦。
12、进一步的，所述滤波模块包括：第一滤波电阻、第二滤波电阻和滤波电容，所述第二滤波电阻与所述滤波电容串联连接后与所述高速光耦安装器件连接；
13、所述第一滤波电阻直接与所述高速光耦安装器件连接。
14、进一步的，所述滤波模块包括：第一滤波电阻和第三滤波电阻，所述第三滤波电阻为零欧电阻跳线；
15、所述高速光耦安装器件分别连接所述第一滤波电阻和所述第三滤波电阻。
16、进一步的，所述可拆卸测试模块还包括浮动电源和稳压电阻，所述浮动电源与所述高速光耦安装器件通过所述稳压电阻连接。
17、第二方面，本申请实施例提供了一种高速光耦测试电路板，所述高速光耦测试电路板包括如本申请第一方面所述的高速光耦测试电路。
18、第三方面，本申请实施例提供了一种高速光耦测试装置，所述高速光耦测试装置包括如本申请第二方面所述的高速光耦测试电路板。
19、通过本申请实施例所提出的高速光耦测试电路中的测试主模块与可拆卸测试模块，即可完成高速光耦性能测试，通过可拆卸测试模块简化高速光耦测试电路，去除冗余部分，满足企业对测试的基本需求，降低成本，同时可拆卸测试模块体积小使得测试设备更加方便灵巧，增强实用性，可拆卸测试模块中的高速光耦安装器件可以安装不同型号的高速光耦，使得高速光耦测试电路能够测试多种类的高速光耦。
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1.一种高速光耦测试电路，其特征在于，所述光耦测试电路包括：测试主模块和可拆卸测试模块；其中，
2.根据权利要求1所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块包括：
3.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一逻辑输出电阻连接，通过所述上拉电阻进行上拉所述高速光耦逻辑输出。
4.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：负载电容，所述负载电容与所述第二逻辑输出电阻连接。
5.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括滤波模块，所述滤波模块分别与所述高速光耦安装器件和所述输出测试接口连接，所述高速光耦输出的所述高速光耦导通时的波形信号经滤波模块输出到所述输出测试接口向外输出。
6.根据权利要求5所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述滤波模块包括：第一滤波电阻、第二滤波电阻和滤波电容，所述第二滤波电阻与所述滤波电容串联连接后与所述高速光耦安装器件连接；
7.根据权利要5
8.根据权利要求1所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括浮动电源和稳压电阻，所述浮动电源与所述高速光耦安装器件通过所述稳压电阻连接。
9.一种高速光耦测试电路板，其特征在于，所述高速光耦测试电路板包括权利要求1至权利要求8中任一项所述的高速光耦测试电路。
10.一种高速光耦测试装置，其特征在于，所述高速光耦测试装置包括权利要求9所述的高速光耦测试电路板。
...【技术特征摘要】
1.一种高速光耦测试电路，其特征在于，所述光耦测试电路包括：测试主模块和可拆卸测试模块；其中，
2.根据权利要求1所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块包括：
3.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一逻辑输出电阻连接，通过所述上拉电阻进行上拉所述高速光耦逻辑输出。
4.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：负载电容，所述负载电容与所述第二逻辑输出电阻连接。
5.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括滤波模块，所述滤波模块分别与所述高速光耦安装器件和所述输出测试接口连接，所述高速光耦输出的所述高速光耦导通时的波形信号经滤波模块输出到所述输出测试接口...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄辉，梅知超，曾德榕，肖俊，程敬康，刘昇宇，
申请(专利权)人：五邑大学，
类型：发明
国别省市：
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