【技术实现步骤摘要】
本申请涉及光电，尤其涉及一种高速光耦测试电路、电路板及装置。
技术介绍
1、高速光耦测试电路技术是一种用于评估和验证高速光耦性能的系统方法，通过研究光耦的工作原理、特性和测试标准，设计专用的硬件电路，应用动态测试，使用信号发生器提供测试信号，通过示波器观测高速光耦的输入和输出波形，分析其传输特性，如传输延迟时间、上升时间和下降时间等。该技术可自动加载测试条件，记录结果，并支持批量测试与计算机通信，以提高测试效率和准确性。测试项目包括响应速度、隔离程度和传输损耗等，确保光耦在不同工作条件下的性能符合标准。
2、然而目前高速光耦在生产和检验过程中存在检测器件结构复杂，导致检测困难的问题，同时测试平台设备的成本较高，需要专业的技术人员进行操作和维护，对专业知识和技能要求较高。因此，目前迫切需要一种能够快速、全面地检测高速光耦性能参数的智能化测试装置。
技术实现思路
1、本申请实施例的主要目的在于提出一种高速光耦测试电路、电路板及装置，以简化高速光耦测试电路，降低成本。
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【技术保护点】
1.一种高速光耦测试电路，其特征在于，所述光耦测试电路包括：测试主模块和可拆卸测试模块；其中，
2.根据权利要求1所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块包括：
3.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一逻辑输出电阻连接，通过所述上拉电阻进行上拉所述高速光耦逻辑输出。
4.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：负载电容，所述负载电容与所述第二逻辑输出电阻连接。
5.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路...
【技术特征摘要】
1.一种高速光耦测试电路，其特征在于，所述光耦测试电路包括：测试主模块和可拆卸测试模块；其中，
2.根据权利要求1所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块包括：
3.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：上拉电阻，所述上拉电阻与所述第一逻辑输出电阻连接，通过所述上拉电阻进行上拉所述高速光耦逻辑输出。
4.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括：负载电容，所述负载电容与所述第二逻辑输出电阻连接。
5.根据权利要求2所述的高速光耦测试电路，其特征在于，所述可拆卸测试模块还包括滤波模块，所述滤波模块分别与所述高速光耦安装器件和所述输出测试接口连接，所述高速光耦输出的所述高速光耦导通时的波形信号经滤波模块输出到所述输出测试接口...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄辉，梅知超，曾德榕，肖俊，程敬康，刘昇宇，
申请(专利权)人：五邑大学，
类型：发明
国别省市：
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