碳化硅结构及其制备方法技术

技术编号:42668766 阅读:21 留言:0更新日期:2024-09-10 12:23
本公开实施例提供了一种碳化硅结构及其制备方法,其中,碳化硅结构的制备方法包括:先后执行第一操作和第二操作,以形成碳化硅层;所述碳化硅层中的不同部位存在颜色变化;第一操作包括:向反应腔室内通入载气气体以及含碳元素和硅元素的反应气体;第二操作包括:至少停止反应气体的通入,并向反应腔室内通入清洁气体,保持预设时长;其中,在第二操作中,反应腔室内的处理温度处于1200℃‑1500℃。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及半导体制备,尤其涉及一种碳化硅结构及其制备方法


技术介绍

1、碳化硅作为重要的第三代半导体材料,具有宽带隙、高临界电场、高热导率、高载流饱和漂移速度等特点,在半导体照明、新一代移动通信、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电领域拥有广阔的应用前景,是支撑信息、能源、交通、国防等产业发展的重点新材料。实际应用中,可以通过热碳还原法、反应烧结法、溶胶-凝胶法、气相法等方式制备获得。

2、然而,利用相关技术制备得到的碳化硅可能存在因其纯度低导致硬度差、使用寿命短等问题。因此,提高碳化硅的纯度成为当前亟需解决的问题。


技术实现思路

1、为解决上述问题中的一个或多个,本公开实施例提出一种碳化硅结构及其制备方法。其中,碳化硅结构的制备方法包括:先后执行第一操作和第二操作,以形成碳化硅层;所述碳化硅层中的不同部位存在颜色变化;所述第一操作包括:向反应腔室内通入载气气体以及含碳元素和硅元素的反应气体;所述第二操作包括:至少停止所述反应气体的通入,并向所述反应腔室内通入清洁气体,保持预设时长;其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种碳化硅结构的制备方法,其特征在于,所述方法包括:先后执行第一操作和第二操作,以形成碳化硅层;所述碳化硅层中的不同部位存在颜色变化;

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第二操作中,所述反应腔室内的处理温度逐步降低。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在所述第二操作中,所述反应腔室内的处理温度处于1200℃-1300℃。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述至少停止所述反应气体的通入,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当保持所述载气气体的通入,且所述载气气体与所述清洁气体为相同气体时,...

【技术特征摘要】

1.一种碳化硅结构的制备方法,其特征在于,所述方法包括:先后执行第一操作和第二操作,以形成碳化硅层;所述碳化硅层中的不同部位存在颜色变化;

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述第二操作中,所述反应腔室内的处理温度逐步降低。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在所述第二操作中,所述反应腔室内的处理温度处于1200℃-1300℃。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述至少停止所述反应气体的通入,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当保持所述载气气体的通入,且所述载气气体与所述清洁气体为相同气体时,所述清洁气体的气流量大于等于0。

6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当停止所述反应气体和所述载气气体的通入时,所述清洁气体的气流量小于所述第一操作中所述载气气体的气流量。

7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述载气气体包括氢气;所述反应气体包括三氯甲基硅烷;所述清洁气体包括氯气和/或氢气。

8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,执行多次循环操作,以形成具有堆...

【专利技术属性】
技术研发人员:张珉硕
申请(专利权)人:重庆欣晖材料技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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